| 南北橋好壞測試方法 | |
| 一般判斷方法：" |) |$ ]( A9 X- q$ W0 R 1。溫度法 ' ]# l) d) p/ h& z( u& | 2。關(guān)聯(lián)元件測試法0 g K* S' @3 q( k6 P- v# T 3。周邊電路電壓測試法4 U. @2 I6 N" X9 w0 R0 ]# ^ 3 Y* B( {5 h4 h; b# q$ a6 W: } 北橋好壞判斷方法 # ?" `* o) L3 ]! @ 一。直接打北橋上或者北橋芯片的周?chē)娙�，如果有短路，則北橋壞。/ w* ]5 \) w3 d$ K3 `. t# _ 二。對主供電部分輸出電感一端或Q1場(chǎng)管的S極、Q2場(chǎng)管的D極打阻值，在不插CPU或假負載的情況下，即判斷北橋好壞：% ^9 ^4 H# V+ l% N$ i! g 1。在40左右數值為正常。) O: V) j# S/ P& ^" k 2。在20-30左右為北橋有輕微損壞。 + x- s+ u2 ~ U5 b' ~ 3。在10以下說(shuō)明北橋損壞。9 R: k8 f6 k9 n' O1 q9 M( A 三。內存插槽，通過(guò)對數據線(xiàn)進(jìn)行打阻值判斷，都為300-800之間數值，說(shuō)明北橋好；若無(wú)窮大，說(shuō)明北橋虛焊；若有3根或3根以上導通，說(shuō)明北橋壞。 p k, y6 a( n6 c, k/ l " p4 p6 R2 j3 _& Q. x# m& j _0 N6 M' h8 G3 \4 g 南橋好壞判斷方法3 l, R4 |( J# z. q3 u+ J. S " n2 O5 U& U& ` 一。IDE口：打2-9、11-19、21-29、37-39針等，對地阻值有600左右且相差不大的數值為南橋正常；如有無(wú)窮大或1000以上的數值為南橋虛焊或IDE口到NQ之間的小電阻燒斷；如阻值明顯偏小為南橋損壞。1 u. t* ]1 y* E2 W ~9 J( ` 二。USB口：打兩個(gè)USB口的2、3針的阻值，如有500左右的數值說(shuō)明南橋正常；如有無(wú)窮大說(shuō)明南橋虛焊或它們到南橋之間的小電阻損壞；如有阻值明顯偏小說(shuō)明南橋損壞。 * U7 ?' T6 W3 Q( v3 C' ~7 v {4 v1 G . g/ q3 D! J2 r2 Q% e# t3 n 9 _" g6 F* h P! p" m 快速判斷南橋好壞的方法 1 c& G @/ S4 _/ ]" l8 V& m! C+ q ) f) R/ h% {9 b$ m) | 一。PCI（A14腳）對地阻值小于80，則南橋損壞。 x7 w: L8 k5 J: M q# x 二。南橋周?chē)娙輰Φ刈柚刀搪贰?br /> 8 i: m M, A$ d" V 三。USB數據線(xiàn)對地阻值短路。3 I; X# H4 S% t" p6 h* ~) M 四。待機時(shí)，南橋溫度高。: Q' @7 A$ s) E5 H$ ^. {4 j) u 五。COMS跳線(xiàn)中間腳對地阻值短路。 j. t, i* V' u 六。1117穩壓管中間腳對地阻值短路。 | |
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