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3.3 故障案例
3.3.1 故障現象1 :
放入鍋具電磁爐檢測不到鍋具而不啟動(dòng),指示燈閃亮,每隔3秒發(fā)出“嘟”一聲短音(數顯型機種顯示E1), 連續1分鐘后轉入待機。
分析 根椐報警信息,此為CPU判定為加熱鍋具過(guò)小(直經(jīng)小于8cm)或無(wú)鍋放入或鍋具材質(zhì)不符而不加熱,并作出相應報知。根據電路原理,電磁爐啟動(dòng)時(shí), CPU先從第13腳輸出試探PWM信號電壓,該信號經(jīng)過(guò)PWM脈寬調控電路轉換為控制振蕩脈寬輸出的電壓加至G點(diǎn),振蕩電路輸出的試探信號電壓再加至IGBT推動(dòng)電路,通過(guò)該電路將試探信號電壓轉換為足己另IGBT工作的試探信號電壓,另主回路產(chǎn)生試探工作電流,當主回路有試探工作電流流過(guò)互感器CT初級時(shí),CT次級隨即產(chǎn)生反影試探工作電流大小的電壓,該電壓通過(guò)整流濾波后送至CPU第6腳,CPU通過(guò)監測該電壓,再與VAC電壓、VCE電壓比較,判別是否己放入適合的鍋具。從上述過(guò)程來(lái)看,要產(chǎn)生足夠的反饋信號電壓另CPU判定己放入適合的鍋具而進(jìn)入正常加熱狀態(tài),關(guān)鍵條件有三個(gè) : 一是加入Q1 G極的試探信號必須足夠,通過(guò)測試Q1 G極的試探電壓可判斷試探信號是否足夠(正常為間隔出現1~2.5V),而影響該信號電壓的電路有PWM脈寬調控電路、振蕩電路、IGBT推動(dòng)電路。二是互感器CT須流過(guò)足夠的試探工作電流,一般可通測試Q1是否正?珊(jiǎn)單判定主回路是否正常,在主回路正常及加至Q1 G極的試探信號正常前提下,影響流過(guò)互感器CT試探工作電流的因素有工作電壓和鍋具。三是到達CPU第6腳的電壓必須足夠,影響該電壓的因素是流過(guò)互感器CT的試探工作電流及電流檢測電路。以下是有關(guān)這種故障的案例:
(1) 測+22V電壓高于24V,按3.2.2<<主板測試不合格對策>>第(3)項方法檢查,結果發(fā)現Q4擊穿。結論 :
由于Q4擊穿,造成+22V電壓升高,另IC2D正輸入端V9電壓升高,導至加到IC2D負輸入端的試探電壓無(wú)法另IC2D比較器翻轉,結果Q1 G極無(wú)試探信號電壓,CPU也就檢測不到反饋電壓而不發(fā)出正常加熱指令。
(2) 測Q1 G極沒(méi)有試探電壓,再測V8點(diǎn)也沒(méi)有試探電壓, 再測G點(diǎn)試探電壓正常,證明PWM脈寬調控電路正常, 再測D18正極電壓為0V(啟動(dòng)時(shí)CPU應為高電平),結果發(fā)現CPU第19腳對地短路,更換CPU后恢復正常。結論 : 由于CPU第19腳對地短路,造成加至IC2C負輸入端的試探電壓通過(guò)D18被拉低, 結果Q1 G極無(wú)試探信號電壓,CPU也就檢測不到反饋電壓而不發(fā)出正常加熱指令。
(3) 按3.2.1<<主板檢測表>>測試到第6步驟時(shí)發(fā)現V16為0V,再按3.2.2<<主板測試不合格對策>>第(6)項方法檢查,結果發(fā)現CPU第11腳擊穿, 更換CPU后恢復正常。結論 : 由于CPU第11腳擊穿, 造成振蕩電路輸出的試探信號電壓通過(guò)D17被拉低, 結果Q1 G極無(wú)試探信號電壓,CPU也就檢測不到反饋電壓而不發(fā)出正常加熱指令。
(4) 測Q1 G極沒(méi)有試探電壓,再測V8點(diǎn)也沒(méi)有試探電壓, 再測G點(diǎn)也沒(méi)有試探電壓,再測Q7基極試探電壓正常, 再測Q7發(fā)射極沒(méi)有試探電壓,結果發(fā)現Q7開(kāi)路。結論 : 由于Q7開(kāi)路導至沒(méi)有試探電壓加至振蕩電路, 結果Q1 G極無(wú)試探信號電壓,CPU也就檢測不到反饋電壓而不發(fā)出正常加熱指令。
(5) 測Q1 G極沒(méi)有試探電壓,再測V8點(diǎn)也沒(méi)有試探電壓, 再測G點(diǎn)也沒(méi)有試探電壓,再測Q7基極也沒(méi)有試探電壓, 再測CPU第13腳有試探電壓輸出,結果發(fā)現C33漏電。結論 : 由于C33漏電另通過(guò)R6向C33充電的PWM脈寬電壓被拉低,導至沒(méi)有試探電壓加至振蕩電路, 結果Q1 G極無(wú)試探信號電壓,CPU也就檢測不到反饋電壓而不發(fā)出正常加熱指令。
(6) 測Q1 G極試探電壓偏低(推動(dòng)電路正常時(shí)間隔輸出1~2.5V), 按3.2.2<<主板測試不合格對策>>第(15)項方法檢查,結果發(fā)現C33漏電。結論 : 由于C33漏電,造成加至振蕩電路的控制電壓偏低,結果Q1 G極上的平均電壓偏低,CPU因檢測到的反饋電壓不足而不發(fā)出正常加熱指令。
(7) 按3.2.1<<主板檢測表>>測試一切正常, 再按3.2.2<<主板測試不合格對策>>第(17)項方法檢查,結果發(fā)現互感器CT次級開(kāi)路。結論 : 由于互感器CT次級開(kāi)路,所以沒(méi)有反饋電壓加至電流檢測電路, CPU因檢測到的反饋電壓不足而不發(fā)出正常加熱指令。
(8) 按3.2.1<<主板檢測表>>測試一切正常, 再按3.2.2<<主板測試不合格對策>>第(17)項方法檢查,結果發(fā)現C31漏電。結論 : 由于C31漏電,造成加至CPU第6腳的反饋電壓不足, CPU因檢測到的反饋電壓不足而不發(fā)出正常加熱指令。
(9) 按3.2.1<<主板檢測表>>測試到第8步驟時(shí)發(fā)現V3為0V,再按3.2.2<<主板測試不合格對策>>第(8)項方法檢查,結果發(fā)現R78開(kāi)路。結論: 由于R78開(kāi)路, 另IC2A比較器因輸入兩端電壓反向(V4>V3),輸出OFF,加至振蕩電路的試探電壓因IC2A比較器輸出OFF而為0,振蕩電路也就沒(méi)有輸出, CPU也就檢測不到反饋電壓而不發(fā)出正常加熱指令。
3.3.2 故障現象2
按啟動(dòng)指示燈指示正常,但不加熱。
分析 一般情況下,CPU檢測不到反饋信號電壓會(huì )自動(dòng)發(fā)出報知信號,但當反饋信號電壓處于足夠與不足夠之間的臨界狀態(tài)時(shí),CPU發(fā)出的指令將會(huì )在試探→正常加熱→試探循環(huán)動(dòng)作,產(chǎn)生啟動(dòng)后指示燈指示正常, 但不加熱的故障。原因為電流反饋信號電壓不足(處于可啟動(dòng)的臨界狀態(tài))。
處理方法 參考3.3.1 <<故障現象1>>第(7)、(9)案例檢查。
3.3.3 故障現象3
開(kāi)機電磁爐發(fā)出兩長(cháng)三短的“嘟”聲((數顯型機種顯示E2),響兩次后電磁爐轉入待機。
分析 此現象為CPU檢測到電壓過(guò)低信息,如果此時(shí)輸入電壓正常,則為VAC檢測電路故障。
處理方法 按3.2.2<<主板測試不合格對策>>第(7)項方法檢查。
3.3.4 故障現象4
插入電源電磁爐發(fā)出兩長(cháng)四短的“嘟”聲(數顯型機種顯示E3)。
分析 此現象為CPU檢測到電壓過(guò)高信息,如果此時(shí)輸入電壓正常,則為VAC檢測電路故障。
處理方法按3.2.2<<主板測試不合格對策>>第(7)項方法檢查。
3.3.5 故障現象5
插入電源電磁爐連續發(fā)出響2秒停2秒的“嘟”聲,指示燈不亮。
分析此現象為CPU檢測到電源波形異常信息,故障在過(guò)零檢測電路。
處理方法 檢查零檢測電路R73、R14、R15、Q11、C9、D1、D2均正常,根據原理分析,提供給過(guò)零檢測電路的脈動(dòng)電壓是由D1、D2和整流橋DB內部交流兩輸入端對地的兩個(gè)二極管組成橋式整流電路產(chǎn)生,如果DB內部的兩個(gè)二極管其中一個(gè)順向壓降過(guò)低,將會(huì )造成電源頻率一周期內產(chǎn)生的兩個(gè)過(guò)零電壓其中一個(gè)并未達到0V(電壓比正常稍高),Q11在該過(guò)零點(diǎn)時(shí)間因基極電壓未能消失而不能截止,集電極在此時(shí)仍為低電平,從而造成了電源每一頻率周期CPU檢測的過(guò)零信號缺少了一個(gè);谝陨戏治,先將R14換入3.3K電阻(目的將Q11基極分壓電壓降低,以抵消比正常稍高的過(guò)零點(diǎn)脈動(dòng)電壓),結果電磁爐恢復正常。雖然將R14換成3.3K電阻電磁爐恢復正常,但維修時(shí)不能簡(jiǎn)單將電阻改3.3K能徹底解決問(wèn)題,因為產(chǎn)生本故障說(shuō)明整流橋DB特性已變,快將損壞,所己必須將R14換回10K電阻并更換整流橋DB。
3.3.6 故障現象6
插入電源電磁爐每隔5秒發(fā)出三長(cháng)五短報警聲(數顯型機種顯示E9)。
分析 此現象為CPU檢測到按裝在微晶玻璃板底的鍋傳感器(負溫系數熱敏電阻)開(kāi)路信息,其實(shí)CPU是根椐第8腳電壓情況判斷鍋溫度及熱敏電阻開(kāi)、短路的,而該點(diǎn)電壓是由R58、熱敏電阻分壓而成,另外還有一只D26作電壓鉗位之用(防止由線(xiàn)盤(pán)感應的電壓損壞CPU) 及一只C18電容作濾波。
處理方法 檢查D26是否擊穿、鍋傳感器有否插入及開(kāi)路(判斷熱敏電阻的好壞在沒(méi)有專(zhuān)業(yè)儀器時(shí)簡(jiǎn)單用室溫或體溫對比<<電阻值---溫度分度表>>阻值)。 |
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