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主板診斷卡代碼大全PCI/ISA兩用型DEBUG卡故障代碼明細表(只適用于PCI/ISA兩用型及PCI單用型)00 (見(jiàn)特殊代碼意義) 已顯示系統的配置;即將控制工INT19引導裝入。(見(jiàn)特殊代碼意義) (見(jiàn)特殊代碼意義)
01 處理器測試1,處理起狀態(tài)核實(shí),如果測試失敗,循環(huán)是無(wú)限的。 處理器寄存器的測試即將開(kāi)始,不可屏蔽中斷即將停用。 CPU寄存器測試正在進(jìn)行或者失靈。
02 確定診斷的類(lèi)型(正;蛘咧圃欤。如果鍵盤(pán)緩沖器含有數據就會(huì )失效。 停用不可屏蔽中斷;通過(guò)延遲開(kāi)始。 CMOS寫(xiě)入/讀出正在進(jìn)行或者失靈。
03 清除8042鍵盤(pán)控制器,發(fā)出TEST-KBRD命令(AAH)。 通電延遲已完成。 ROM B10S檢查部件正在進(jìn)行或失靈
04 使8042鍵盤(pán)控制器復位,核實(shí)TESTKBRD。 鍵盤(pán)控制器較復位/通電測試?删幊涕g隔計時(shí)器的測試正在進(jìn)行或失靈。
05 如果不斷重復制造測試1至5,可獲得8042控狀態(tài)。 已確定軟復位/通電;即將啟動(dòng)ROM。 DMA初始準備正在進(jìn)行或者失靈。
06 使電路片作初始準備,停用視頻,奇偶性,DMA電路片,以及清除DMA電路片,所有頁(yè)面寄存器和CMOS停機字節。使電路片作初始準備,停用視頻,奇偶性,DMA電路片,以及清除DMA電路片,所有頁(yè)面寄存器和CMOS停機字節。已啟動(dòng)ROM計算ROM BIOS檢查總和,以及檢查鍵盤(pán)緩沖器是否清除。 DMA初始頁(yè)面寄存器讀/寫(xiě)測試正在進(jìn)行或失靈。
07 處理器測試2,核實(shí)CPU寄存器的工作。 ROM BIOS檢查總和正常,鍵盤(pán)緩沖器已清除,向鍵盤(pán)發(fā)出BAT(基本保證測試)命令。無(wú)意義
08 使CMOS計時(shí)器作初始準備,正常地更新計時(shí)器的循環(huán)。 已向鍵盤(pán)發(fā)出BAT命令,即將寫(xiě)入BAT命令。 RAM更新檢驗正在進(jìn)行或失靈。
09 EPROM檢查總和且必須等于零才通過(guò)。 核實(shí)鍵盤(pán)的基本保證測試,接著(zhù)核實(shí)鍵盤(pán)命令字節。 第一個(gè)64K RAM測試正在進(jìn)行。
0A 使視頻接口作初始準備。 發(fā)出鍵盤(pán)命令字節代碼,即將寫(xiě)入命令字節數據。 第一個(gè)64K RAM芯片或數據線(xiàn)失靈
0B 測試8254通道0。 寫(xiě)入鍵盤(pán)控制器命令字節,即將發(fā)出引腳23和24的封鎖/解鎖命令。 第一個(gè)64K RAM奇/偶邏輯失靈
0C 測試8054通道1。 鍵盤(pán)控制器引腳23,24已封鎖/解鎖;已發(fā)出NOP命令。 第一個(gè)64K RAM的地址線(xiàn)故障。
0D 1.檢查CPU速度是否與系統時(shí)鐘相匹配。2.檢查控制芯片已編程值是否條符合初設置。3.視頻通道測試,如果失敗,則鳴喇叭。已處理NOP命令;接著(zhù)測試CMOS停開(kāi)寄存器。 第一個(gè)64K RAM的奇偶性失靈
0E 測試CMOS停機字節。 CMOS停開(kāi)寄存器讀/寫(xiě)測試;將計算CMOS檢查總和。 初始貨輸入/輸出端口地址
0F 測試擴展的CMOS。 已計算CMOS檢查總和寫(xiě)入診斷字節;CMOS開(kāi)始初始準備。 無(wú)意義。
10 測試DMA通道0。 CMOS已作初始準備,CMOS狀態(tài)寄存器即將為日期和時(shí)間作初始準備。 第一個(gè)64K RAM第0位故障。
11 測試DMA通道1。 COMS狀態(tài)寄存器已作初始準備,即將停用DMA和中斷控制器。 第一個(gè)64K RAM第1位故障
12 測試DMA頁(yè)面寄存器。 停用DMA控制器1以及中斷控制器1和2;即將視頻顯示器并使端口B作初始準備。 第一個(gè)64K RAM第2位故障
13 測試8471鍵盤(pán)控制器接口。 視頻顯示器已停用,端口B已作初始準備;即將開(kāi)始電路片初始化/存儲器自動(dòng)檢測。 第一個(gè)64K RAM第3位故障。
14 測試存儲器更新觸發(fā)電路。 電路片初始化/存儲器自動(dòng)檢測結束;8254計時(shí)器測試即將開(kāi)始。 第一個(gè)64K RAM第4位故障。
15 測試開(kāi)頭64K的系統存儲器。 第2通道計時(shí)器測試了一半;8254第2通道計時(shí)器即將完成測試。 第一個(gè)64K RAM第5位故障。
16 建立8259所用的中斷矢量表。 第2通道計時(shí)器測試結束;8254第1通道計時(shí)器即將完成測試。 第一個(gè)64K RAM第6位故障。
17 調準視頻輸入/輸出工作,若裝有視頻BIOS則啟用。 第1通道計時(shí)器測試結束;8254第0通道即將完成測試。 第一個(gè)64K RAM第7位故障
18 測試視頻存儲器,如果安裝選用的視頻BIOS通過(guò),則可繞過(guò)。 第0通道計時(shí)器測試結束;即將開(kāi)始更新存儲器。 第一個(gè)64K RAM第8位故障。
19 測試第1通道的中斷控制器(8259)屏蔽位。 已開(kāi)始更新存儲器,接著(zhù)將完成存儲器的更新。 第一個(gè)64K RAM第9位故障
1A 測試第2通道的中斷控制器(8259)屏蔽位。 正在觸發(fā)存儲器更新線(xiàn)路,即將檢查15微秒通/斷時(shí)間。 第一個(gè)64K RAM第10位故障
1B 測方式CMOS電池電平。 完成存儲器更新時(shí)間30微秒測試;即將開(kāi)始基本的64K存儲器測試。 第一個(gè)64K RAM第11位故障。
1C 測試COMS檢查總和。 無(wú)意義。 第一個(gè)64K RAM第12位故障
1D 調定COMS的配置。 無(wú)意義。 第一個(gè)64K RAM第13位故障。
1E 測定系統存儲器的大小,并且客觀(guān)存在和COMS值比較。 無(wú)意義。 第一個(gè)64K RAM第14位故障。
1F 測試64K存儲器至最高640K。 無(wú)意義。 第一個(gè)64K RAM第15位故障。
20 測量固定的8259中斷位。 開(kāi)始基本的64K存儲器測試;即將測試地址線(xiàn)。 從屬DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈
21 維持不可屏蔽中斷(NMI)位(奇偶性或輸入/輸出通道的檢查)。 通過(guò)地址線(xiàn)測試;即將觸發(fā)奇偶性。主DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。
22 測試8259的中斷功能。 結束觸發(fā)奇偶性;將開(kāi)始串行數據讀/寫(xiě)測試。 主中斷屏蔽寄存器正在進(jìn)行或失
23 測試保護方式8086虛似方式和8186頁(yè)面方式。 基本的64K串行數據讀/寫(xiě)測試正常;即將開(kāi)始中斷矢量初始化之前的任何調節。從屬中斷屏蔽寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。
24 測定1Mb以上的擴展存儲器。 矢量初始化之前的任何調節完成,即將開(kāi)始中斷矢量的初始準備。設置ES段地址寄存器注冊表到內存高端
25 測試除頭一個(gè)64K之后的所有存儲器。 完成中斷矢量初始準備;將為旋轉武斷續開(kāi)始讀出8042的輸入/輸出端口。裝入中斷矢量正在進(jìn)行或失靈。
26 測試保護方式的例外情況。 讀寫(xiě)8042的輸入/輸出端口;即將為旋轉式斷續開(kāi)始使全局數據作初始準備。開(kāi)啟A20地址線(xiàn);使之參入尋址。
27 確定超高速緩沖存儲器的控制或屏蔽RAM。 全1數據初始準備結束;接著(zhù)將進(jìn)行中斷矢量之后的任何初始準備。鍵盤(pán)控制器測試正在進(jìn)行或失靈。
28 確定超高速緩沖存儲器的控制或者特別的8042鍵盤(pán)控制器。 完成中斷矢量之后的初始準備;即將調定單色廣式。 CMOS電源故障/檢查總和計算正在進(jìn)行。
29 無(wú)意義。 已調定單色方式,即將調定彩色方式。 CMOS配置有效性的檢查正在進(jìn)行
2A 使鍵盤(pán)控制器作初始準備。 已調定彩色方式,即將進(jìn)行ROM測試前的觸發(fā)奇偶性。 置空64K基本內存。
2B 使磁盤(pán)驅動(dòng)器和控制器作初始準備。 觸發(fā)奇偶性結束;即將控制任選的視頻ROM檢查前所需的任何調節。屏幕存儲器測試正在進(jìn)行或失靈。
2C 檢查串行端口,并使之作初始準備。 完成視頻ROM控制之前的處理;即將查看任選的視頻ROM并加以控制。屏幕初始準備正在進(jìn)行或失靈。
2D 檢查并行串口,并使之做初始準備。 以完成任選的視頻ROM控制,即將進(jìn)行視頻ROM回復控制之后任何其他處理的控制。屏幕回掃測試正在進(jìn)行或失靈。
2E 使磁盤(pán)驅動(dòng)器和控制器作初始準備。 使視頻ROM控制之后的處理復原;如果沒(méi)發(fā)現EGA/VGA就要進(jìn)行顯示存儲器讀寫(xiě)測試。檢查視頻ROM正在進(jìn)行
2F 檢測數學(xué)協(xié)處理器,并使之做初始準備。 沒(méi)發(fā)現EGA/VGA;即將開(kāi)始顯示存儲器讀/寫(xiě)測試
30 建立基本內存和擴展內存。 通過(guò)顯示存儲器讀/寫(xiě)測試;即將進(jìn)行掃描檢查。 認為屏幕是可以工作的。
31 檢測從C800:0至EFFF:0的選用ROM,并使之做處世準備。 顯示存儲器讀/寫(xiě)測試失敗,即將進(jìn)行另一種顯示存儲器讀/寫(xiě)測試。單色監視器是可以工作的
32 對主板上的COM/LTP/FDD/聲音設備等I/O芯片編程使之適合設置值。通過(guò)另一種顯示存儲器讀/寫(xiě)測試;即將進(jìn)行另一種顯示器掃描檢查。 彩色監視器(40列)是可以工作的。
33 無(wú)意義。 視頻顯示器檢查結束;將開(kāi)始利用調節開(kāi)關(guān)和實(shí)際插卡檢驗顯示器的類(lèi)型。 彩色監視器(80列)是可以工作的。
34 無(wú)意義。 已檢驗顯示適配器;接著(zhù)將調定顯示方式。 記時(shí)器滴答聲中斷測試正在進(jìn)行或失靈
35 無(wú)意義。 完成調定顯示方式;即將檢查BIOS ROM的數據區。 停機檢測正在進(jìn)行或失靈。
36 無(wú)意義。 已檢查BIOS ROM數據區;即將調定通電信息的游標。 門(mén)電路中A—20失靈。
37 無(wú)意義。 識別通電信息的游標調定已完成;即將顯示通電信息。 保護方式中的意外中斷
38 無(wú)意義。 完成顯示通電信息;即將讀出新的游標位置。 RAM測試正在進(jìn)行或者地址故障>FFFFh。
39 無(wú)意義。 己讀出保存游標位置,即將顯示引用信息串
3A 無(wú)意義。 引用信息串顯示結束;即將顯示發(fā)現(ESC)信息。引用信息串顯示結束;即將顯示發(fā)現信息。間隔計時(shí)器通道2測試或失靈。
3B 用OPT電路片(只是486)使輔助超高速緩沖存儲器作初始準備。 已顯示發(fā)現信息:虛擬方式,存儲器測試即將開(kāi)始。按日計算的日歷時(shí)鐘測試正在進(jìn)行或失靈
3C 建立允許進(jìn)入CMOS設置的標志。 無(wú)意義。 串行端口測試正在進(jìn)行或失靈
3D 初女臺化鍵盤(pán)/PS2鼠標/PNP設備及總內存節點(diǎn)。 無(wú)意義。 并行端口測試正在進(jìn)行或失靈
3E 嘗試打開(kāi)L2高速緩存。 無(wú)意義。 數學(xué)處理器測試正在進(jìn)行或失靈。
3F 無(wú)意義。
40 無(wú)意義。 已開(kāi)始準備虛擬方式的測試;即將從視頻存儲器來(lái)檢驗。 調整CPU速度,使之外圍時(shí)鐘精確匹配。
41 中斷己打開(kāi),將初始化數據以便于0:0檢測內存變換(中斷控制器或內存不良)。 從視頻存儲器檢驗之后復原;即將準備描述符表。系統插件板選擇失靈。
42 顯示窗口進(jìn)入SETUP。 描述符表已準備好;即將進(jìn)行虛擬方式作存儲器測試。 擴展CMOS RAM故障
43 若是即插即用BIOS,則串口,并口初始化。 進(jìn)入虛擬方式;即將為診斷方式實(shí)現中斷。
44 無(wú)意義。 已實(shí)現中斷(如已接通診斷開(kāi)關(guān);即將使數據作初始準備以檢查存儲器在0:0返轉。 BIOS中斷進(jìn)行初始化。
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