電腦主板故障檢測卡故障代碼大全解析——電腦故障維修技術(shù)

　　主板檢測卡代碼大全 (2012-12-03 09:54:42)
　　電腦主板故障檢測卡故障代碼大全解析——電腦故障維修技術(shù)，技巧雜談
　　一般來(lái)說(shuō)代碼：FF、00、C0、D0、CF、F1或什么也沒(méi)有表示CPU沒(méi)通過(guò)
　　C1、C6、C3、D3、D4、D6、D8、B0、A7、E1表示內存不過(guò)
　　24、25、26、01、0A、0B、2A、2B、31表示顯卡不過(guò)
　　某些集成顯卡主板23、24、25表示可以正常點(diǎn)亮，某些VIA芯片組顯示13則表示可以點(diǎn)亮，某些品牌機里的主板顯示0B則表示正常，某些主板顯示4E表示正常點(diǎn)亮，某些INTEL芯片組的主板顯示26或16則表示可以正常點(diǎn)亮。
　　C1、C6、C3、01、02這個(gè)組合循環(huán)跳變大部分是I/0壞或刷BIOS
　　如顯示05、ED、41則直接刷BIOS 00 . 已顯示系統的配置;即將控制INI19引導裝入。 .
　　01 處理器測試1，處理器狀態(tài)核實(shí),如果測試失敗，循環(huán)是無(wú)限的。 處理器寄存器的測試即將開(kāi)始，不可屏蔽中斷即將停用。 CPU寄存器測試正在進(jìn)行或者失敗。
　　02 確定診斷的類(lèi)型(正�；蛘咧圃�)。如果鍵盤(pán)緩沖器含有數據就會(huì )失效。 停用不可屏蔽中斷;通過(guò)延遲開(kāi)始。 CMOS寫(xiě)入/讀出正在進(jìn)行或者失靈。
　　03 清除8042鍵盤(pán)控制器，發(fā)出TESTKBRD命令(AAH) 通電延遲已完成。 ROM BIOS檢查部件正在進(jìn)行或失靈。
　　04 使8042鍵盤(pán)控制器復位，核實(shí)TESTKBRD。 鍵盤(pán)控制器軟復位/通電測試。 可編程間隔計時(shí)器的測試正在進(jìn)行或失靈。
　　05 如果不斷重復制造測試1至5，可獲得8042控制狀態(tài)。 已確定軟復位/通電;即將啟動(dòng)ROM。 DMA初如準備正在進(jìn)行或者失靈。
　　06 使電路片作初始準備，停用視頻、奇偶性、DMA電路片，以及清除DMA電路片，所有頁(yè)面寄存器和CMOS停機字節。 已啟動(dòng)ROM計算ROM BIOS檢查總和，以及檢查鍵盤(pán)緩沖器是否清除。 DMA初始頁(yè)面寄存器讀/寫(xiě)測試正在進(jìn)行或失靈。
　　07 處理器測試2，核實(shí)CPU寄存器的工作。 ROM BIOS檢查總和正常，鍵盤(pán)緩沖器已清除，向鍵盤(pán)發(fā)出BAT(基本保證測試)命令。 .
　　08 使CMOS計時(shí)器作初始準備，正常的更新計時(shí)器的循環(huán)。 已向鍵盤(pán)發(fā)出BAT命令，即將寫(xiě)入BAT命令。 RAM更新檢驗正在進(jìn)行或失靈。
　　09 EPROM檢查總和且必須等于零才通過(guò)。 核實(shí)鍵盤(pán)的基本保證測試，接著(zhù)核實(shí)鍵盤(pán)命令字節。 第一個(gè)64K RAM測試正在進(jìn)行。
　　0A 使視頻接口作初始準備。 發(fā)出鍵盤(pán)命令字節代碼，即將寫(xiě)入命令字節數據。 第一個(gè)64K RAM芯片或數據線(xiàn)失靈，移位。
　　0B 測試8254通道0。 寫(xiě)入鍵盤(pán)控制器命令字節，即將發(fā)出引腳23和24的封鎖/解鎖命令。 第一個(gè)64K RAM奇/偶邏輯失靈。
　　0C 測試8254通道1。 鍵盤(pán)控制器引腳23、24已封鎖/解鎖;已發(fā)出NOP命令。 第一個(gè)64K RAN的地址線(xiàn)故障。
　　0D 1、檢查CPU速度是否與系統時(shí)鐘相匹配。2、檢查控制芯片已編程值是否符合初設置。3、視頻通道測試，如果失敗，則鳴喇叭。 已處理NOP命令;接著(zhù)測試CMOS停開(kāi)寄存器。 第一個(gè)64K RAM的奇偶性失靈
　　0E 測試CMOS停機字節。 CMOS停開(kāi)寄存器讀/寫(xiě)測試;將計算CMOS檢查總和。 初始化輸入/輸出端口地址。
　　0F 測試擴展的CMOS。 已計算CMOS檢查總和寫(xiě)入診斷字節;CMOS開(kāi)始初始準備。 .
　　10 測試DMA通道0。 CMOS已作初始準備，CMOS狀態(tài)寄存器即將為日期和時(shí)間作初始準備。 第一個(gè)64K RAM第0位故障。
　　11 測試DMA通道1。 CMOS狀態(tài)寄存器已作初始準備，即將停用DMA和中斷控制器。 第一個(gè)64DK RAM第1位故障。
　　12 測試DMA頁(yè)面寄存器。 停用DMA控制器1以及中斷控制器1和2;即將視頻顯示器并使端口B作初始準備。 第一個(gè)64DK RAM第2位故障。
　　13 測試8741鍵盤(pán)控制器接口。 視頻顯示器已停用，端口B已作初始準備;即將開(kāi)始電路片初始化/存儲器自動(dòng)檢測。 第一個(gè)64DK RAM第3位故障。
　　14 測試存儲器更新觸發(fā)電路。 電路片初始化/存儲器處自動(dòng)檢測結束;8254計時(shí)器測試即將開(kāi)始。 第一個(gè)64DK RAM第4位故障。
　　15 測試開(kāi)頭64K的系統存儲器。 第2通道計時(shí)器測試了一半;8254第2通道計時(shí)器即將完成測試。 第一個(gè)64DK RAM第5位故障。
　　16 建立8259所用的中斷矢量表。 第2通道計時(shí)器測試結束;8254第1通道計時(shí)器即將完成測試。 第一個(gè)64DK RAM第6位故障。
　　17 調準視頻輸入/輸出工作，若裝有視頻BIOS則啟用。 第1通道計時(shí)器測試結束;8254第0通道計時(shí)器即將完成測試。 第一個(gè)64DK RAM第7位故障。
　　18 測試視頻存儲器，如果安裝選用的視頻BIOS通過(guò)，由可繞過(guò)。 第0通道計時(shí)器測試結束;即將開(kāi)始更新存儲器。 第一個(gè)64DK RAM第8位故障。
　　19 測試第1通道的中斷控制器(8259)屏蔽位。 已開(kāi)始更新存儲器，接著(zhù)將完成存儲器的更新。 第一個(gè)64DK RAM第9位故障。
　　1A 測試第2通道的中斷控制器(8259)屏蔽位。 正在觸發(fā)存儲器更新線(xiàn)路，即將檢查15微秒通/斷時(shí)間。 第一個(gè)64DK RAM第10位故障。
　　1B 測試CMOS電池電平。 完成存儲器更新時(shí)間30微秒測試;即將開(kāi)始基本的64K存儲器測試。 第一個(gè)64DK RAM第11位故障。
　　1C 測試CMOS檢查總和。 . 第一個(gè)64DK RAM第12位故障。
　　1D 調定CMOS配置。 . 第一個(gè)64DK RAM第13位故障。
　　1E 測定系統存儲器的大小，并且把它和CMOS值比較。 . 第一個(gè)64DK RAM第14位故障。
　　1F 測試64K存儲器至最高640K。 . 第一個(gè)64DK RAM第15位故障。
　　20 測量固定的8259中斷位。 開(kāi)始基本的64K存儲器測試;即將測試地址線(xiàn)。 從屬DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。
　　21 維持不可屏蔽中斷(NMI)位(奇偶性或輸入/輸出通道的檢查)。 通過(guò)地址線(xiàn)測試;即將觸發(fā)奇偶性。 主DMA寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。
　　22 測試8259的中斷功能。 結束觸發(fā)奇偶性;將開(kāi)始串行數據讀/寫(xiě)測試。 主中斷屏蔽寄存器測試正在進(jìn)行或失靈。
　　23 測試保護方式8086虛擬方式和8086頁(yè)面方式。 基本的64K串行數據讀/寫(xiě)測試正常;即將開(kāi)始中斷矢量初始化之前的任何調節。 從屬中斷屏蔽存器測試正在進(jìn)行或失靈。
　　24 測定1MB以上的擴展存儲器。 矢量初始化之前的任何調節完成，即將開(kāi)始中斷矢量的初始準備。 設置ES段地址寄存器注冊表到內存高端。
　　25 測試除頭一個(gè)64K之后的所有存儲器。 完成中斷矢量初始準備;將為旋轉式斷續開(kāi)始讀出8042的輸入/輸出端口。 裝入中斷矢量正在進(jìn)行或失靈。
　　26 測試保護方式的例外情況。 讀出8042的輸入/輸出端口;即將為旋轉式斷續開(kāi)始使全局數據作初始準備。 開(kāi)啟A20地址線(xiàn);使之參入尋址。
　　27 確定超高速緩沖存儲器的控制或屏蔽RAM。 全1數據初始準備結束;接著(zhù)將進(jìn)行中斷矢量之后的任何初始準備。 鍵盤(pán)控制器測試正在進(jìn)行或失靈。
　　28 確定超高速緩沖存儲器的控制或者特別的8042鍵盤(pán)控制器。 完成中斷矢量之后的初始準備;即將調定單色方式。 CMOS電源故障/檢查總和計算正在進(jìn)行。
　　29 . 已調定單色方式，即將調定彩色方式。 CMOS配置有效性的檢查正在進(jìn)行。
　　2A 使鍵盤(pán)控制器作初始準備。 已調定彩色方式，即將進(jìn)行ROM測試前的觸發(fā)奇偶性。 置空64K基本內存。
　　2B 使磁碟驅動(dòng)器和控制器作初始準備。 觸發(fā)奇偶性結束;即將控制任選的視頻ROM檢查前所需的任何調節。 屏幕存儲器測試正在進(jìn)行或失靈。
　　2C 檢查串行端口，并使之作初始準備。 完成視頻ROM控制之前的處理;即將查看任選的視頻ROM并加以控制。 屏幕初始準備正在進(jìn)行或失靈。
　　2D 檢測并行端口，并使之作初始準備。 已完成任選的視頻ROM控制，即將進(jìn)行視頻ROM回復控制之后任何其他處理的控制。 屏幕回掃測試正在進(jìn)行或失靈。
　　2E 使硬磁盤(pán)驅動(dòng)器和控制器作初始準備。 從視頻ROM控制之后的處理復原;如果沒(méi)有發(fā)現EGA/VGA就要進(jìn)行顯示器存儲器讀/寫(xiě)測試。 檢測視頻ROM正在進(jìn)行。
　　2F 檢測數學(xué)協(xié)處理器，并使之作初始準備。 沒(méi)發(fā)現EGA/VGA;即將開(kāi)始顯示器存儲器讀/寫(xiě)測試。 .
　　30 建立基本內存和擴展內存。 通過(guò)顯示器存儲器讀/寫(xiě)測試;即將進(jìn)行掃描檢查。 認為屏幕是可以工作的。
　　31 檢測從C800：0至EFFF：0的選用ROM，并使之作初始準備。 顯示器存儲器讀/寫(xiě)測試或掃描檢查失敗，即將進(jìn)行另一種顯示器存儲器讀/寫(xiě)測試。 單色監視器是可以工作的。
　　32 對主板上COM/LTP/FDD/聲音設備等I/O芯片編程使之適合設置值。 通過(guò)另一種顯示器存儲器讀/寫(xiě)測試;卻將進(jìn)行另一種顯示器掃描檢查。 彩色監視器(40列)是可以工作的。
　　33 . 視頻顯示器檢查結束;將開(kāi)始利用調節開(kāi)關(guān)和實(shí)際插卡檢驗顯示器的關(guān)型。 彩色監視器(80列)是可以工作的。
　　34 . 已檢驗顯示器適配器;接著(zhù)將調定顯示方式。 計時(shí)器滴答聲中斷測試正在進(jìn)行或失靈。
　　35 . 完成調定顯示方式;即將檢查BIOS ROM的數據區。 停機測試正在進(jìn)行或失靈。
　　36 . 已檢查BIOS ROM數據區;即將調定通電信息的游標。 門(mén)電路中A-20失靈。
　　37 . 識別通電信息的游標調定已完成;即將顯示通電信息。 保護方式中的意外中斷。
　　38 . 完成顯示通電信息;即將讀出新的游標位置。 RAM測試正在進(jìn)行或者地址故障>FFFFH。
　　39 . 已讀出保存游標位置，即將顯示引用信息串。 .
　　3A . 引用信息串顯示結束;即將顯示發(fā)現信息。 間隔計時(shí)器通道2測試或失靈。
　　3B 用OPTI電路片(只是486)使輔助超高速緩沖存儲器作初始準備。 已顯示發(fā)現<ESC>信息;虛擬方式，存儲器測試即將開(kāi)始。 按日計算的日歷時(shí)鐘測試正在進(jìn)行或失靈。
　　3C 建立允許進(jìn)入CMOS設置的標志。 . 串行端口測試正在進(jìn)行或失靈。
　　3D 初始化鍵盤(pán)/PS2鼠標/PNP設備及總內存節點(diǎn)。 . 并行端口測試正在進(jìn)行或失靈。
　　3E 嘗試打開(kāi)L2高速緩存。 . 數學(xué)協(xié)處理器測試正在進(jìn)行或失靈。
　　40 . 已開(kāi)始準備虛擬方式的測試;即將從視頻存儲器來(lái)檢驗。 調整CPU速度，使之與外圍時(shí)鐘精確匹配。
　　41 中斷已打開(kāi)，將初始化數據以便于0：0檢測內存變換(中斷控制器或內存不良) 從視頻存儲器檢驗之后復原;即將準備描述符表。 系統插件板選擇失靈。
　　42 顯示窗口進(jìn)入SETUP。 描述符表已準備好;即將進(jìn)行虛擬方式作存儲器測試。 擴展CMOS RAM故障。
　　43 若是即插即用BIOS，則串口、并口初始化。 進(jìn)入虛擬方式;即將為診斷方式實(shí)現中斷。 .
　　44 . 已實(shí)現中斷(如已接通診斷開(kāi)關(guān);即將使數據作初始準備以檢查存儲器在0：0返轉。) BIOS中斷進(jìn)行初始化。
　　45 初始化數學(xué)協(xié)處理器。 數據已作初始準備;即將檢查存儲器在0：0返轉以及找出系統存儲器的規模。 .
　　46 . 測試存儲器已返回;存儲器大小計算完畢，即將寫(xiě)入頁(yè)面來(lái)測試存儲器。 檢查只讀存儲器ROM版本。
　　47 . 即將在擴展的存儲器試寫(xiě)頁(yè)面;即將基本640K存儲器寫(xiě)入頁(yè)面。 .
　　48 . 已將基本存儲器寫(xiě)入頁(yè)面;即將確定1MB以上的存儲器。 視頻檢查，CMOS重新配置。
　　49 . 找出1BM以下的存儲器并檢驗;即將確定1MB以上的存儲器。 .
　　4A . 找出1MB以上的存儲器并檢驗;即將檢查BIOS ROM數據區。 進(jìn)行視頻的初始化。
　　4B . BIOS ROM數據區的檢驗結束，即將檢查<ESC>和為軟復位清除1MB以上的存儲器。 .
　　4C . 清除1MB以上的存儲器(軟復位)即將清除1MB以上的存儲器. 屏蔽視頻BIOS ROM。.
　　4D 已清除1MB以上的存儲器(軟復位);將保存存儲器的大小。 .
　　4E 若檢測到有錯誤;在顯示器上顯示錯誤信息，并等待客戶(hù)按<F1>鍵繼續。 開(kāi)始存儲器的測試：(無(wú)軟復位);即將顯示第一個(gè)64K存儲器的測試。 顯示版權信息。
　　4F 讀寫(xiě)軟、硬盤(pán)數據，進(jìn)行DOS引導。 開(kāi)始顯示存儲器的大小，正在測試存儲器將使之更新;將進(jìn)行串行和隨機的存儲器測試。 .
　　50 將當前BIOS監時(shí)區內的CMOS值存到CMOS中。 完成1MB以下的存儲器測試;即將高速存儲器的大小以便再定位和掩蔽。 將CPU類(lèi)型和速度送到屏幕。
　　51 . 測試1MB以上的存儲器。 .
　　52 所有ISA只讀存儲器ROM進(jìn)行初始化，最終給PCI分配IRQ號等初始化工作。 已完成1MB以上的存儲器測試;即將準備回到實(shí)址方式。 進(jìn)入鍵盤(pán)檢測。
　　53 如果不是即插即用BIOS，則初始化串口、并口和設置時(shí)種值。 保存CPU寄存器和存儲器的大小，將進(jìn)入實(shí)址方式。 .
　　54 . 成功地開(kāi)啟實(shí)址方式;即將復原準備停機時(shí)保存的寄存器。 掃描“打擊鍵”
　　55 . 寄存器已復原，將停用門(mén)電路A-20的地址線(xiàn)。 .
　　56 . 成功地停用A-20的地址線(xiàn);即將檢查BIOS ROM數據區。 鍵盤(pán)測試結束。
　　57 . BIOS ROM數據區檢查了一半;繼續進(jìn)行。 .
　　58 . BIOS ROM的數據區檢查結束;將清除發(fā)現<ESC>信息。 非設置中斷測試。
　　59 . 已清除<ESC>信息;信息已顯示;即將開(kāi)始DMA和中斷控制器的測試。 .
　　5A . . 顯示按“F2”鍵進(jìn)行設置。
　　5B . . 測試基本內存地址。
　　5C . . 測試640K基本內存。
　　60 設置硬盤(pán)引導扇區病毒保護功能。 通過(guò)DMA頁(yè)面寄存器的測試;即將檢驗視頻存儲器。 測試擴展內存。
　　61 顯示系統配置表。 視頻存儲器檢驗結束;即將進(jìn)行DMA#1基本寄存器的測試。 .
　　62 開(kāi)始用中斷19H進(jìn)行系統引導。 通過(guò)DMA#1基本寄存器的測試;即將進(jìn)行DMA#2寄存器的測試。 測試擴展內存地址線(xiàn)。
　　63 . 通過(guò)DMA#2基本寄存器的測試;即將檢查BIOS ROM數據區。 .
　　64 . BIOS ROM數據區檢查了一半，繼續進(jìn)行。 .
　　65 . BIOS ROM數據區檢查結束;將把DMA裝置1和2編程。 .
　　66 . DMA裝置1和2編程結束;即將使用59號中斷控制器作初始準備。 Cache注冊表進(jìn)行優(yōu)化配置。
　　67 . 8259初始準備已結束;即將開(kāi)始鍵盤(pán)測試。 .
　　68 . . 使外部Cache和CPU內部Cache都工作。
　　6A . . 測試并顯示外部Cache值。
　　6C . . 顯示被屏蔽內容。
　　6E . . 顯示附屬配置信息。
　　70 . . 檢測到的錯誤代碼送到屏幕顯示。
　　72 . . 檢測配置有否錯誤。
　　74 . . 測試實(shí)時(shí)時(shí)鐘。
　　76 . . 掃查鍵盤(pán)錯誤。
　　7A . . 鎖鍵盤(pán)。
　　7C . . 設置硬件中斷矢量。
　　7E . . 測試有否安裝數學(xué)處理器。
　　80 . 鍵盤(pán)測試開(kāi)始，正在清除和檢查有沒(méi)有鍵卡住，即將使鍵盤(pán)復原。 關(guān)閉可編程輸入/輸出設備。
　　81 . 找出鍵盤(pán)復原的錯誤卡住的鍵;即將發(fā)出鍵盤(pán)控制端口的測試命令。 .
　　82 . 鍵盤(pán)控制器接口測試結束，即將寫(xiě)入命令字節和使循環(huán)緩沖器作初始準備。 檢測和安裝固定RS232接口(串口)。
　　83 . 已寫(xiě)入命令字節，已完成全局數據的初始準備;即將檢查有沒(méi)有鍵鎖住。 .
　　84 . 已檢查有沒(méi)有鎖住的鍵，即將檢查存儲器是否與CMOS失配。 檢測和安裝固定并行口。
　　85 . 已檢查存儲器的大小;即將顯示軟錯誤和口令或旁通安排。 .
　　86 . 已檢查口令;即將進(jìn)行旁通安排前的編程。 重新打開(kāi)可編程I/O設備和檢測固定I/O是否有沖突。
　　87 . 完成安排前的編程;將進(jìn)行CMOS安排的編程。 .
　　88 . 從CMOS安排程序復原清除屏幕;即將進(jìn)行后面的編程。 初始化BIOS數據區。
　　89 . 完成安排后的編程;即將顯示通電屏幕信息。 .
　　8A . 顯示頭一個(gè)屏幕信息。 進(jìn)行擴展BIOS數據區初始化。
　　8B . 顯示了信息：即將屏蔽主要和視頻BIOS。 .
　　8C . 成功地屏蔽主要和視頻BIOS，將開(kāi)始CMOS后的安排任選項的編程。 進(jìn)行軟驅控制器初始化。
　　8D . 已經(jīng)安排任選項編程，接著(zhù)檢查滑了鼠和進(jìn)行初始準備。 .
　　8E . 檢測了滑鼠以及完成初始準備;即將把硬、軟磁盤(pán)復位。 .
　　8F . 軟磁盤(pán)已檢查，該磁碟將作初始準備，隨后配備軟磁碟。 .
　　90 . 軟磁碟配置結束;將測試硬磁碟的存在。 硬盤(pán)控制器進(jìn)行初始化。
　　91 . 硬磁碟存在測試結束;隨后配置硬磁碟。 局部總線(xiàn)硬盤(pán)控制器初始化。
　　92 . 硬磁碟配置完成;即將檢查BIOS ROM的數據區。 跳轉到用戶(hù)路徑2。
　　93 . BIOS ROM的數據區已檢查一半;繼續進(jìn)行。 .
　　94 . BIOS ROM的數據區檢查完畢，即調定基本和擴展存儲器的大小。 關(guān)閉A-20地址線(xiàn)。
　　95 . 因應滑鼠和硬磁碟47型支持而調節好存儲器的大小;即將檢驗顯示存儲器。 .
　　96 . 檢驗顯示存儲器后復原;即將進(jìn)行C800：0任選ROM控制之前的初始準備。 “ES段”注冊表清除。
　　97 . C800：0任選ROM控制之前的任何初始準備結束，接著(zhù)進(jìn)行任選ROM的檢查及控制。 .
　　98 . 任選ROM的控制完成;即將進(jìn)行任選ROM回復控制之后所需的任何處理。 查找ROM選擇。
　　99 . 任選ROM測試之后所需的任何初始準備結束;即將建立計時(shí)器的數據區或打印機基本地址。 .
　　9A . 調定計時(shí)器和打印機基本地址后的返回操作;即調定RS-232基本地址。 屏蔽ROM選擇。
　　9B . 在RS-232基本地址之后返回;即將進(jìn)行協(xié)處理器測試之初始準備。 .
　　9C . 協(xié)處理器測試之前所需初始準備結束;接著(zhù)使協(xié)處理器作初始準備。 建立電源節能管理。
　　9D . 協(xié)處理器作好初始準備，即將進(jìn)行協(xié)處理器測試之后的任何初始準備。 .
　　9E . 完成協(xié)處理器之后的初始準備，將檢查擴展鍵盤(pán)，鍵盤(pán)識別符，以及數字鎖定。 開(kāi)放硬件中斷。
　　9F . 已檢查擴展鍵盤(pán)，調定識別標志，數字鎖接通或斷開(kāi)，將發(fā)出鍵盤(pán)識別命令。 .
　　A0 . 發(fā)出鍵盤(pán)識別命令;即將使鍵盤(pán)識別標志復原。 設置時(shí)間和日期。
　　A1 . 鍵盤(pán)識別標志復原;接著(zhù)進(jìn)行高速緩沖存儲器的測試。 .
　　A2 . 高速緩沖存儲器測試結束;即將顯示任何軟錯誤。 檢查鍵盤(pán)鎖。
　　A3 . 軟錯誤顯示完畢;即將調定鍵盤(pán)打擊的速率。 .
　　A4 . 調好鍵盤(pán)的打擊速率，即將制訂存儲器的等待狀態(tài)。 鍵盤(pán)重復輸入速率的初始化。
　　A5 . 存儲器等候狀態(tài)制定完畢;接著(zhù)將清除屏幕。 .
　　A6 . 屏幕已清除;即將啟動(dòng)奇偶性和不可屏蔽中斷。 .
　　A7 . 已啟用不可屏蔽中斷和奇偶性;即將進(jìn)行控制任選的ROM在E000：0之所需的任何初始準備。 .
　　A8 . 控制ROM在E000：0之前的初始準備結束，接著(zhù)將控制E000：0之后所需的任何初始準備。 清除“F2”鍵提示。
　　A9 . 從控制E000：0 ROM返回，即將進(jìn)行控制E000：0任選ROM之后所需的任何初始準備。 .
　　AA . 在E000：0控制任選ROM之后的初始準備結束;即將顯示系統的配置。 掃描“F2”鍵打擊。
　　AC . . 進(jìn)入設置.
　　AE . . 清除通電自檢標志。
　　B0 . . 檢查非關(guān)鍵性錯誤。
　　B2 . . 通電自檢完成準備進(jìn)入操作系統引導。
　　B4 . . 蜂鳴器響一聲。
　　B6 . . 檢測密碼設置(可選)。
　　B8 . . 清除全部描述表。
　　BC . . 清除校驗檢查值。
　　BE 程序缺省值進(jìn)入控制芯片，符合可調制二進(jìn)制缺省值表。 . 清除屏幕(可選)。
　　BF 測試CMOS建立值。 . 檢測病毒，提示做資料備份。
　　C0 初始化高速緩存。 . 用中斷19試引導。
　　C1 內存自檢。 . 查找引導扇區中的“55”“AA”標記。
　　C3 第一個(gè)256K內存測試。
　　C5 從ROM內復制BIOS進(jìn)行快速自檢。
　　C6 高速緩存自檢。
　　CA 檢測Micronies超速緩沖存儲器(如果存在)，并使之作初始準備。
　　CC 關(guān)斷不可屏蔽中斷處理器。
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