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' }% p) l0 d: z( |5 W. Y( x& I一般判斷方法: % g( S5 ~- N- R/ R3 \6 Q, X0 X
1。溫度法4 p4 |4 B5 l# D
2。關(guān)聯(lián)元件測試法$ q5 R4 O p2 Z; W
3。周邊電路電壓測試法$ p+ @& F6 }4 x$ r
北橋好壞判斷方法
0 w4 v/ P" _, H" @# J# v 一。直接打北橋上或者北橋芯片的周?chē)娙,如果有短路,則北橋壞。* r7 l4 L' v" H6 w, w% _
9 ]& i T" U$ K) ` 二。對主供電部分輸出電感一端或Q1場(chǎng)管的S極、Q2場(chǎng)管的D極打阻值,在不插CPU或假負載的情況下,即判斷北橋好壞:
7 _3 A6 R G! S) R1。在40左右數值為正常。/ }9 N% g- o% J+ b R: B# X
2。在20-30左右為北橋有輕微損壞。5 ^0 _8 } P4 U# A, K
* w2 L- f% |$ }' P- K" |/ ], G3。在10以下說(shuō)明北橋損壞。6 Q z7 L5 k% o/ v- {5 M& H
) R/ Q' I' l4 Y4 D0 T 三。內存插槽,通過(guò)對數據線(xiàn)進(jìn)行打阻值判斷,都為300-800之間數值,說(shuō)明北橋好;若無(wú)窮大,說(shuō)明北橋虛焊;若有3根或3根以上導通,說(shuō)明北橋壞。
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南橋好壞判斷方法; |* T! e# Y* Y: _, W
( p1 u2 {8 [ X; a9 u) _一。IDE口:打2-9、11-19、21-29、37-39針等,對地阻值有600左右且相差不大的數值為南橋正常;如有無(wú)窮大或1000以上的數值為南橋虛焊或IDE口到NQ之間的小電阻燒斷;如阻值明顯偏小為南橋損壞。, L7 Q6 |' d7 ^9 ^
二。USB口:打兩個(gè)USB口的2、3針的阻值,如有500左右的數值說(shuō)明南橋正常;如有無(wú)窮大說(shuō)明南橋虛焊或它們到南橋之間的小電阻損壞;如有阻值明顯偏小說(shuō)明南橋損壞。
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快速判斷南橋好壞的方法% O* h+ G. {6 E
6 u; x, p% s' I8 e 一。PCI(A14腳)對地阻值小于80,則南橋損壞。( D5 R& A2Y2 O% ]+ U) S' {/ w# E$ o& w. `
二。南橋周?chē)娙輰Φ刈柚刀搪贰? O* b&~ [. {. i" u/ v% a/ A2 p' [) f( H3 n5 ?4 ?$ z+ ]
三。USB數據線(xiàn)對地阻值短路。. j: \+ \$ Q( n& m
四。待機時(shí),南橋溫度高。8 j( A( U2 x0 c4^/ U; y5 U" Z4 D; f
五。COMS跳線(xiàn)中間腳對地阻值短路。& o4 a( ]*R, W1 U: g8 k/ N( b7 o/ }
; f% t2 B4 w" ?3 G& R" A7 E 六。1117穩壓管中間腳對地阻值短路。' j/ _; |& X; j: J' W' t
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