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硬盤(pán)出現大量壞道是很普遍的事情，這里講述西部數據硬盤(pán)較為強有力的修復方法，工廠(chǎng)自檢(Slef Test功能的使用與講義)
首先我們來(lái)了解SelfTest，工廠(chǎng)內置微代碼，使用這個(gè)功能，可以對硬盤(pán)表面損壞扇區及其損壞磁道加入到缺陷列表P-List中是非常有好的，SelfTest可以對任何西部數據硬盤(pán)啟動(dòng)，前提是固件必須是完整的，系統區還必須保證不含有不兼容版本的模塊數據，硬盤(pán)的讀寫(xiě)磁頭也可以正常使用，這個(gè)時(shí)候，SelfTest可能通過(guò)全部測試并順利完成；
通過(guò)以上描述，大家了解了SelfTest必須配備的條件了，現在我們開(kāi)始做SelfTest吧！
SelfTest前的準備工作
運行SelfTest前，準備運行工作環(huán)境，準備一個(gè)獨立的PC電源(AT電源當然也可以^_^ )，將電源必須連接到可以使用的PC-PC3000PCI功能卡上，準備做SelfTest的硬盤(pán)與電源周?chē)仨氂凶銐虻目臻g，硬盤(pán)必須連接在PC-3000PCI功能卡上，建議放在#1號端口(害怕大家不明白，就是吉祥卡上的ATA1)；
啟動(dòng)SelfTest功能
將硬盤(pán)連接到獨立電源準備做SelfTest，打開(kāi)電源，將硬盤(pán)連接到PC-3000PCI卡上，開(kāi)始運行Normal mode，選擇Tools,Utility extensions,SelfTest并運行Launch SelfTest啟動(dòng)SelfTest命令，這個(gè)過(guò)程初始化及其運行硬盤(pán)第一個(gè)內置測試以后，就運行Interrupt status monitoring中斷監控狀態(tài)命令，結束SelfTest對話(huà)框，退出程序，因為測試另一個(gè)端口也需要一些時(shí)間。從運行SelfTest的硬盤(pán)上保持電源接通斷開(kāi)數據線(xiàn)，連接到下一個(gè)硬盤(pán)重新做上述步驟，照樣對所有硬盤(pán)繼續做SelfTest。
硬盤(pán)必須在整個(gè)完成期間始終接通獨立電源，大約需要3-6小時(shí)，運行期間可以使用PC3000-PCI卡上第2個(gè)端口進(jìn)行其他硬盤(pán)的維修和診斷，作為選擇可以連接打容量的硬盤(pán)到#1端口監控，測試完成，它將發(fā)出狀態(tài)信號，再檢查剩余的硬盤(pán)。
完成SelfTest功能
有時(shí)候完成了SelfTest需要再對進(jìn)行過(guò)SelfTest的硬盤(pán)重新調整，連接它到PC-3000PCI卡上，運行程序在SelfTest Monitor mode； |
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