NO7：AUDIO不良1* I- S9 \0 k, F/ Z
現象1：內部寄存器測試Fail ( n% ~' b' Z& j9 G' _分析：聲卡測試程序也分為兩部分，一部分是內部寄存器測試，一部分是聲卡回路測試。內部寄存器測試會(huì )出現的兩種不兩現象一是找不到聲卡芯片模塊，二是邏輯功能不良。聲卡芯片與南橋連接的AC97總線(xiàn)由5路信號構成，同時(shí)也有一個(gè)專(zhuān)用的晶振提供基準頻率。" V$ p5 v4 j. P" S$ P2 V' H
方法：找不到聲卡芯片時(shí)測量晶振是否起振，若晶振起振則測量AC97的5路信號的電壓、波形、頻率等。若晶振不起振，可能是晶振本身故障或聲卡芯片故障以及線(xiàn)路故障。一個(gè)好的判斷晶振是否OK的方法是在開(kāi)機到進(jìn)入系統的過(guò)程中一直用示波器監測晶振的波形，如果在中途晶振曾經(jīng)起振過(guò)則證明晶振OK。因為在開(kāi)機過(guò)程中初始化聲卡芯片時(shí)若聲卡某一功能模塊正常就會(huì )使晶振有一個(gè)短暫的震動(dòng)過(guò)程。在測試聲卡邏輯功能出現不良時(shí)一般由聲卡芯片和南橋控制模塊故障引起，需要根據測量5路AC97信號具體分析，同時(shí)要根據經(jīng)驗采用試探法。4 v% p5 ]7 R! r7 d: g. l5 V
找不到聲卡相關(guān)電路圖10如下:http://photo.163.com/photos/rgmwxfsnrvke/72138007/2009047587/NO7：AUDIO不良2+ C+ E7 x& T! T4 v' Z$ H
現象2：音頻回路測試Fail 3 u, \' _, y9 X0 ^6 Y' k分析：聲卡音頻回路測試是針對聲卡的音頻輸出、音頻輸入回路的一個(gè)測試，其原理是利用從Speak Out接口輸出音頻信號，通過(guò)回路從MIC In和Line In以及CD In接口接收信號，檢測回路是否通暢、信號是否完整等。任一回路故障都會(huì )造成不良出現。測試原則是先測Line In to Speak Out再測MIC In和CD In。 / g2 l* T% K" t, ^7 ]方法：查看測試不良提示信息，如顯示Line In to MIC In Fail或Line In to CD In Fail表示有音頻信號輸出，聲卡芯片功能基本正常，故障出在接口回路，用萬(wàn)用表檢測MIC In和CD In接口以及回路的線(xiàn)路，重點(diǎn)在線(xiàn)路中的耦合和濾波電容；如不良提示信息顯示的是Line In to Speak Out Fail則可能是聲卡芯片未能輸出音頻信號或輸出回路故障，除檢測輸出接口外重點(diǎn)測量輸出信號。測量方法一是不帶電情況下測試聲卡芯片輸出音頻信號對地的阻抗，二是運行測試程時(shí)測量輸出的音頻信號的電壓波形等。
