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91手機維修論壇
標題:
格盤(pán)祥解
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作者:
whb761
時(shí)間:
2005-8-4 21:37
標題:
格盤(pán)祥解
修改硬盤(pán)缺陷列表的方式就是對反向磁化的改進(jìn),這種方法和上面說(shuō)的硬盤(pán)廠(chǎng)商的維修方式非<BR>常相似。前面說(shuō)過(guò)了,硬盤(pán)廠(chǎng)商對于自己硬盤(pán)產(chǎn)品的系統信息區的信息內容和讀取的指令代碼,<BR>一般是不公開(kāi)的,但是一些技術(shù)人員通過(guò)分析和逆向工程,破解了廠(chǎng)商的指令代碼甚至<BR>Fireware,使得他們可以編制出程序軟件,自由地讀取、修改和寫(xiě)入硬盤(pán)系統信息區的信息。<BR>這樣,他們同樣可以像硬盤(pán)廠(chǎng)商一樣,編寫(xiě)程序對磁盤(pán)盤(pán)面按照物理地址進(jìn)行掃描,重新構造<BR>出新的缺陷扇區列表寫(xiě)進(jìn)系統保留區來(lái)替換原有的列表。經(jīng)過(guò)這樣的軟件維修的硬盤(pán),理論上<BR>說(shuō)是跟硬盤(pán)廠(chǎng)商維修的硬盤(pán)是沒(méi)有差別的。這種軟件因為有了這個(gè)功能,所以?xún)r(jià)格非常昂貴,<BR>
C-3000要上萬(wàn)元,效率源專(zhuān)業(yè)版(零售版只能修復ECC錯誤和CRC錯誤,其實(shí)什么也干不了)<BR>也要六百多,而且他們是不包括以后的升級技術(shù)支持的,因為這些軟件有著(zhù)一個(gè)非常致命的<BR>弱點(diǎn)??畢竟他們是通過(guò)破解獲得的數據,在一定程度上說(shuō)是非法的。不同的硬盤(pán)廠(chǎng)商、甚至<BR>同一廠(chǎng)商不同型號的硬盤(pán),對于系統保留區的控制代碼都是不一樣的,Fireware也不同,為了<BR>讓軟件有通用性,他們必須通過(guò)不斷地破解新的硬盤(pán)型號才能使軟件支持更多的硬盤(pán)。而如果<BR>因為你購買(mǎi)了一套軟件他們就要不斷給予升級支持的話(huà)他們是絕對不干的,為了要修更多的新<BR>的硬盤(pán)型號,你就必須不斷地支付升級費用。在另一方面,對硬盤(pán)的系統信息區信息,如果<BR>破解得好還可以,如果破解得不好,把信息修改寫(xiě)進(jìn)去以后,輕的會(huì )讓硬盤(pán)在讀寫(xiě)時(shí)頻頻出現<BR>錯誤,不穩定;重的就會(huì )報銷(xiāo)掉這個(gè)硬盤(pán)了。
作者:
whb761
時(shí)間:
2005-8-4 21:38
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>首先是不斷開(kāi)發(fā)新的信息格式和新的指令集。不同廠(chǎng)商的硬盤(pán)內部的信息格式和指令固然不同,<BR>就算是同一個(gè)廠(chǎng)商的不同型號硬盤(pán),內部的信息和指令也有可能是不同的,這樣就無(wú)形中增加<BR>了破解的難度??為了能維修不斷增加的新的硬盤(pán)型號,開(kāi)發(fā)這些專(zhuān)業(yè)軟件的公司就必須不斷<BR>研究新的硬盤(pán)。</P>
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><BR>其次是采用芯片和硬盤(pán)內部信息結合的方式來(lái)杜絕換板,F在的硬盤(pán),在控制芯片內部和硬盤(pán)<BR>保留區內都有一個(gè)唯一的串號,每一個(gè)硬盤(pán)的串號都是不一樣的。在硬盤(pán)啟動(dòng)時(shí),硬盤(pán)內部<BR>控制程序會(huì )先把在芯片中的串號和保存在磁盤(pán)上面的串號作對比,兩者一致才繼續初始化;<BR>如果兩者不一致,就掛起。這樣,即使更換了同樣型號的硬盤(pán)電路板和芯片,也會(huì )因為內部<BR>串號校驗的時(shí)候不能通過(guò)而無(wú)法啟動(dòng)硬盤(pán)。</P>
作者:
whb761
時(shí)間:
2005-8-4 21:44
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>1.邏輯壞道</P>
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>這是日常使用中最常見(jiàn)的硬盤(pán)故障,實(shí)際上是磁盤(pán)磁道上面的校驗信息(ECC)跟磁道的數據<BR>和伺服信息對不上號。出現這一故障的原因,通常都是因為一些程序的錯誤操作或是該處扇區<BR>的磁介質(zhì)開(kāi)始出現不穩定的先兆。一般在操作中的表現就是文件存取時(shí)出錯,或者硬盤(pán)克隆的<BR>時(shí)候到了出錯的地方就彈出出錯信息,不能再繼續下去。消除這些邏輯壞道的方法其實(shí)比較<BR>簡(jiǎn)單,最常用的方法就是用系統的磁盤(pán)掃描功能。在DOS下面用Scandisk掃描,系統可以把<BR>邏輯出錯的扇區標出來(lái),以后在進(jìn)行存取操作時(shí)就會(huì )避免操作這些扇區。當然,如果單單是<BR>軟件的錯誤操作造成的,也可以用原廠(chǎng)的工具進(jìn)行全盤(pán)低格來(lái)重新恢復所有有邏輯錯誤的地方。<BR>也有的人利用HDD Regenerator、效率源之類(lèi)的軟件消除扇區錯誤,重新激活這個(gè)扇區。不過(guò)<BR>對于那些因為是該扇區的磁介質(zhì)不穩定造成的錯誤,這里還是不推薦使用重新激活的方式,<BR>以免在儲存了重要信息后再次出</P>
作者:
whb761
時(shí)間:
2005-8-4 21:44
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>2.物理壞道</P>
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>這個(gè)也是比較常見(jiàn)的硬盤(pán)故障,實(shí)際上是因為震蕩、劃傷等原因導致一些扇區的磁介質(zhì)失去<BR>磁記憶能力而造成的。通常這樣的損壞修復都比較麻煩,因為在硬盤(pán)內部的磁道列表中,這個(gè)<BR>扇區是被標記為正常的,是真實(shí)的物理存在,所以它不能通過(guò)掃描、格式化、低級格式化或者<BR>激活扇區的方法消除,而必須把這個(gè)扇區加入到設置在硬盤(pán)內部的系統保留區內,由工廠(chǎng)設置<BR>的缺陷列表(G列表和P列表)中去,才能在硬盤(pán)控制系統的可見(jiàn)范圍內消除這個(gè)壞道</P>
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>3 大面積物理壞道</P>
作者:
whb761
時(shí)間:
2005-8-4 21:45
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>4.磁頭定位不準</P>
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>這個(gè)問(wèn)題也經(jīng)?梢耘龅,其實(shí)就是磁頭因為裝配上的輕微誤差,導致在硬盤(pán)長(cháng)時(shí)間使用后<BR>問(wèn)題惡化;又或者是硬盤(pán)的磁頭長(cháng)期工作后出現疲勞現象導致這種情況的發(fā)生。有時(shí)候一些<BR>硬盤(pán)讀寫(xiě)特別慢,拷貝一個(gè)文件老半天沒(méi)有反應,或者有時(shí)候會(huì )聽(tīng)到輕微的咔咔聲,也許就<BR>是磁頭定位不準而產(chǎn)生的問(wèn)題。對于這樣的問(wèn)題,還是需要找專(zhuān)門(mén)的專(zhuān)業(yè)軟件或者找有這些<BR>專(zhuān)業(yè)軟件的維修人員,通過(guò)軟件對磁頭的控制程序做出輕微的調整,一般就可以恢復正常<BR>使用。不過(guò)如果硬盤(pán)已經(jīng)有一定的“年紀”了,或者平時(shí)就是不間斷、大負荷使用的話(huà),磁頭<BR>就確實(shí)已經(jīng)疲勞或者老化了,即使經(jīng)過(guò)調整暫時(shí)把問(wèn)題掩蓋起來(lái),還是會(huì )在不長(cháng)的時(shí)間內再次<BR>出現的。</P>
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>5.磁頭變形</P>
<P>這個(gè)跟磁頭定位不準是不一樣的,即使是微小的變形,對于讀取數據所需要的精度來(lái)說(shuō)也已經(jīng)<BR>是太多了,用軟件調整的方法不一定可行。處理這樣的問(wèn)題,最簡(jiǎn)單直接的方法就是像處理<BR>大面積壞道一樣,把這個(gè)磁頭停掉。這同樣會(huì )損失這個(gè)磁頭所負責讀取的盤(pán)面的那一部分容量。</P>
<P><BR>6.控制芯片或者電路板燒壞</P>
<P>這樣的問(wèn)題沒(méi)說(shuō)的,一般最直接的方法都是找另一塊同樣型號的硬盤(pán)的電路板,把壞的電路板<BR>換下來(lái)(維修的人管這個(gè)叫“換板”);蛘哒乙粔K相同型號的芯片,寫(xiě)進(jìn)同型號硬盤(pán)的芯片<BR>信息,然后換到電路板上去。</P>
作者:
whb761
時(shí)間:
2005-8-4 21:46
<
>防破解策略:<BR>其實(shí)硬盤(pán)保留區的信息和內部指令,是由硬盤(pán)廠(chǎng)商開(kāi)發(fā)出來(lái)的,為了防制通過(guò)破解內部信息<BR>和指令的方法來(lái)維修,廠(chǎng)商不斷開(kāi)發(fā)新的信息格式和新的指令集。不同廠(chǎng)商的硬盤(pán)內部的<BR>信息格式和指令固然不同,就算是同一個(gè)廠(chǎng)商的不同型號硬盤(pán),內部的信息和指令也有可能<BR>是不同的,這樣就無(wú)形中增加了破解的難度??<BR>其次是采用芯片和硬盤(pán)內部信息結合的方式來(lái)杜絕換板,F在的硬盤(pán),在控制芯片內部和<BR>硬盤(pán)保留區內都有一個(gè)唯一的串號,每一個(gè)硬盤(pán)的串號都是不一樣的。在硬盤(pán)啟動(dòng)時(shí),硬盤(pán)<BR>內部控制程序會(huì )先把在芯片中的串號和保存在磁盤(pán)上面的串號作對比,兩者一致才繼續初始化;<BR>如果兩者不一致,就掛起。這樣,即使更換了同樣型號的硬盤(pán)電路板和芯片,也會(huì )因為內部<BR>串號校驗的時(shí)候不能通過(guò)而無(wú)法啟動(dòng)硬盤(pán)。</P>
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>Bad sector (壞扇區)</P>
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> 在硬盤(pán)中無(wú)法被正常訪(fǎng)問(wèn)或不能被正確讀寫(xiě)的扇區都稱(chēng)為Bad sector。一個(gè)扇區能<BR>存儲512Bytes的數據,如果在某個(gè)扇區中有任何一個(gè)字節不能被正確讀寫(xiě),則這個(gè)扇區為<BR>Bad sector。除了存儲512Bytes外,每個(gè)扇區還有數十個(gè)Bytes信息,包括標識(ID)、校驗值<BR>和其它信息。這些信息任何一個(gè)字節出錯都會(huì )導致該扇區變“Bad”。例如,在低級格式化的<BR>過(guò)程中每個(gè)扇區都分配有一個(gè)編號,寫(xiě)在ID中。如果ID部分出錯就會(huì )導致這個(gè)扇區無(wú)法被訪(fǎng)問(wèn)<BR>到,則這個(gè)扇區屬于Bad sector。有一些Bad sector能夠通過(guò)低級格式化重寫(xiě)這些信息來(lái)糾正</P>
<P><BR> Bad cluster (壞簇)</P>
<P> 在用戶(hù)對硬盤(pán)分區并進(jìn)行高級格式化后,每個(gè)區都會(huì )建立文件分配表(File Allocation<BR> Table, FAT)。FAT中記錄有該區內所有cluster(簇)的使用情況和相互的鏈接關(guān)系。如果在<BR>高級格式化(或工具軟件的掃描)過(guò)程中發(fā)現某個(gè)cluster使用的扇區包括有壞扇區,則在FAT<BR>中記錄該cluster為Bad cluster,并在以后存放文件時(shí)不再使用該cluster,以避免數據丟失。<BR>有時(shí)病毒或惡意軟件也可能在FAT中將無(wú)壞扇區的正常cluster標記為Bad cluster, 導致正常<BR>cluster不能被使用。這里需要強調的是,每個(gè)cluster包括若干個(gè)扇區,只要其中存在一個(gè)<BR>壞扇區,則整個(gè)cluster中的其余扇區都一起不再被使用.<BR></P>
作者:
whb761
時(shí)間:
2005-8-4 21:46
<
>Defect (缺陷)</P>
<
> 在硬盤(pán)內部中所有存在缺陷的部分都被稱(chēng)為Defect。如果某個(gè)磁頭狀態(tài)不好,則這個(gè)<BR>磁頭為Defect head。如果盤(pán)面上某個(gè)Track(磁道)不能被正常訪(fǎng)問(wèn),則這Track為Defect <BR>Track. 如果某個(gè)扇區不能被正常訪(fǎng)問(wèn)或不能正確記錄數據,則該扇區也稱(chēng)為Defect Sector. <BR>可以認為Bad sector 等同于 Defect sector. 從總的來(lái)說(shuō),某個(gè)硬盤(pán)只要有一部分存在缺陷,<BR>就稱(chēng)這個(gè)硬盤(pán)為Defect hard disk.</P>
<
> P-list (永久缺陷表)</P>
<P> 現在的硬盤(pán)密度越來(lái)越高,單張盤(pán)片上存儲的數據量超過(guò)40Gbytes. 硬盤(pán)廠(chǎng)家在生產(chǎn)盤(pán)片<BR>過(guò)程極其精密,但也極難做到100%的完美,硬盤(pán)盤(pán)面上或多或少存在一些缺陷。廠(chǎng)家在硬盤(pán)<BR>出廠(chǎng)前把所有的硬盤(pán)都進(jìn)行低級格式化,在低級格式化過(guò)程中將自動(dòng)找出所有defect track<BR>和defect sector,記錄在P-list中。并且在對所有磁道和扇區的編號過(guò)程中,將skip(跳過(guò))<BR>這些缺陷部分,讓用戶(hù)永遠不能用到它們。這樣,用戶(hù)在分區、格式化、檢查剛購買(mǎi)的新硬盤(pán)<BR>時(shí),很難發(fā)現有問(wèn)題。一般的硬盤(pán)都在P-list中記錄有一定數量的defect, 少則數百,多則數<BR>以萬(wàn)計。如果是SCSI硬盤(pán)的話(huà)可以找到多種通用軟件查看到P-list,因為各種牌子的SCSI硬盤(pán)<BR>使用兼容的SCSI指令集。而不同牌子不同型號的IDE硬盤(pán),使用各自不同的指令集,想查看其<BR>P-list要用針對性的專(zhuān)業(yè)軟件。</P>
<P> G-list (增長(cháng)缺陷表)</P>
<P> 用戶(hù)在使用硬盤(pán)過(guò)程中,有可能會(huì )發(fā)現一些新的defect sector。按“三包”規定,只要<BR>出現一個(gè)defect sector,商家就應該為用戶(hù)換或修,F在大容量的硬盤(pán)出現一個(gè)defect <BR>sector概率實(shí)在很大,這樣的話(huà)硬盤(pán)商家就要為售后服務(wù)忙碌不已了。于是,硬盤(pán)廠(chǎng)商設計了<BR>一個(gè)自動(dòng)修復機制,叫做Automatic Reallcation。有大多數型號的硬盤(pán)都有這樣的功能:在<BR>對硬盤(pán)的讀寫(xiě)過(guò)程中,如果發(fā)現一個(gè)defect sector,則自動(dòng)分配一個(gè)備用扇區替換該扇區,<BR>并將該扇區及其替換情況記錄在G-list中。這樣一來(lái),少量的defect sector對用戶(hù)的使用沒(méi)有<BR>太大的影響。<BR></P>
作者:
whb761
時(shí)間:
2005-8-4 21:46
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>也有一些硬盤(pán)自動(dòng)修復機制的激發(fā)條件要嚴格一些,需要用某些軟件來(lái)判斷defect sector,<BR>并通過(guò)某個(gè)端口(據說(shuō)是50h)調用自動(dòng)修復機制。比如常用的Lformat, ADM,DM中的Zero<BR> fill,Norton中的Wipeinfo和校正工具,西數工具包中的wddiag, IBM的DFT中的Erase等。<BR>這些工具之所以能在運行過(guò)后消除了一些“壞道”,很重要的原因就在這Automatic <BR>Reallcation(當然還有其它原因),而不能簡(jiǎn)單地概括這些“壞道”是什么“邏輯壞道”<BR>或“假壞道”。如果哪位被誤導中毒太深的讀者不相信這個(gè)事實(shí),等他找到能查看G-list的<BR>專(zhuān)業(yè)工具后就知道,這些工具運行過(guò)后,G-list將會(huì )增加多少記錄!“邏輯壞道”或<BR>“假壞道”有必要記錄在G-list中并用其它扇區替換么?</P>
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> 當然,G-list的記錄不會(huì )無(wú)限制,所有的硬盤(pán)都會(huì )限定在一定數量范圍內。如火球系列<BR>限度是500,美鉆二代的限度是636,西數BB的限度是508,等等。超過(guò)限度,Automatic <BR>Reallcation就不能再起作用。這就是為何少量的“壞道”可以通過(guò)上述工具修復(有人就<BR>概括為:“邏輯壞道”可以修復),而壞道多了不能通過(guò)這些工具修復(又有人概括為:<BR>“物理壞道”不可以修復)。<BR></P>
作者:
whb761
時(shí)間:
2005-8-4 21:47
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>Bad track (壞道)</P>
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> 這個(gè)概念源于十多年前小容量硬盤(pán)(100M以下),當時(shí)的硬盤(pán)在外殼上都貼有一張小<BR>表格,上面列出該硬盤(pán)中有缺陷的磁道位置(新硬盤(pán)也有)。在對這個(gè)硬盤(pán)進(jìn)行低級格式化<BR>時(shí)(如用ADM或DM 5.0等工具,或主板中的低格工具),需要填入這些Bad track的位置, <BR>以便在低格過(guò)程中跳過(guò)這些磁道,F在的大容量硬盤(pán)在結構上與那些小容量硬盤(pán)相差極大,<BR>這個(gè)概念用在大容量硬盤(pán)上有點(diǎn)牽強。</P>
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> 讀者們還可能發(fā)現國內很多刊物和網(wǎng)上文章中還有這么幾個(gè)概念:物理壞道,邏輯壞道,<BR>真壞道,假壞道,硬壞道,軟壞道等。高朋在國外的硬盤(pán)技術(shù)資料中沒(méi)有找到對應的英文概念,<BR>也許是中國人自己概括的吧?既然有那么多的人能接受這些概念,也許某些專(zhuān)家能作出一些的<BR>合理解釋。</P>
作者:
whb761
時(shí)間:
2005-8-4 21:48
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> 深入了解硬盤(pán)參數</P>
<
> 正常情況下,硬盤(pán)在接通電源之后,都要進(jìn)行“初始化”過(guò)程(也可以稱(chēng)為“自檢”)。<BR>這時(shí),會(huì )發(fā)出一陣子自檢聲音,這些聲音長(cháng)短和規律視不同牌子硬盤(pán)而各不一樣,但同型號的<BR>正常硬盤(pán)的自檢聲音是一樣的。有經(jīng)驗的人都知道,這些自檢聲音是由于硬盤(pán)內部的磁頭尋道<BR>及歸位動(dòng)作而發(fā)出的。為什么硬盤(pán)剛通電就需要執行這么多動(dòng)作呢?簡(jiǎn)單地說(shuō),是硬盤(pán)在讀取<BR>的記錄在盤(pán)片中的初始化參數。</P>
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> 一般熟悉硬盤(pán)的人都知道,硬盤(pán)有一系列基本參數,包括:牌子、型號、容量、柱面數、<BR>磁頭數、每磁道扇區數、系列號、緩存大小、轉速、S.M.A.R.T值等。其中一部分參數就寫(xiě)在<BR>硬盤(pán)的標簽上,有些則要通過(guò)軟件才能測出來(lái)。但是,高朋告訴你,這些參數僅僅是初始化<BR>參數的一小部分,盤(pán)片中記錄的初始化參數有數十甚至數百個(gè)!硬盤(pán)的CPU在通電后自動(dòng)尋找<BR>BIOS中的啟動(dòng)程序,然后根據啟動(dòng)程序的要求,依次在盤(pán)片中指定的位置讀取相應的參數。<BR>如果某一項重要參數找不到或出錯,啟動(dòng)程序無(wú)法完成啟動(dòng)過(guò)程,硬盤(pán)就進(jìn)入保護模式。在<BR>保護模式下,用戶(hù)可能看不到硬盤(pán)的型號與容量等參數,或者無(wú)法進(jìn)入任何讀寫(xiě)操作。近來(lái)<BR>有些系列的硬盤(pán)就是這個(gè)原因而出現類(lèi)似的通病,如:FUJITSU MPG系列自檢聲正常卻不認盤(pán),<BR>MAXTOR美鉆系列認不出正確型號及自檢后停轉,WD BB EB系列能正常認盤(pán)卻拒絕讀寫(xiě)操作等。</P>
<P> 不同牌子不同型號的硬盤(pán)有不同的初始化參數集,以較熟悉的Fujitsu硬盤(pán)為例,高朋<BR>簡(jiǎn)要地講解其中一部分參數,以便讀者理解內部初始化參數的原理。</P>
<P> 通過(guò)專(zhuān)用的程序控制硬盤(pán)的CPU,根據BIOS程序的需要,依次讀出初始化參數集,按模塊<BR>分別存放為69個(gè)不同的文件,文件名也與BIOS程序中調用到的參數名稱(chēng)一致。其中部分參數<BR>模塊的簡(jiǎn)要說(shuō)明如下:<BR></P>
作者:
whb761
時(shí)間:
2005-8-4 21:48
<
>DM硬盤(pán)內部的基本管理程序</P>
<
> - PL永久缺陷表<BR> - TS缺陷磁道表<BR> - HS實(shí)際物理磁頭數及排列順序<BR> - SM最高級加密狀態(tài)及密碼<BR> - SU用戶(hù)級加密狀態(tài)及密碼<BR> - CI 硬件信息,包括所用的CPU型號,BIOS版本,磁頭種類(lèi),磁盤(pán)碟片種類(lèi)等<BR> - FI生產(chǎn)廠(chǎng)家信息<BR> - WE寫(xiě)錯誤記錄表<BR> - RE讀錯誤記錄表<BR> - SI容量設定,指定允許用戶(hù)使用的最大容量(MAX LBA),轉換為外部邏輯磁頭數(一般<BR>為16)和邏輯每磁道扇區數(一般為63)<BR> - ZP區域分配信息,將每面盤(pán)片劃分為十五個(gè)區域,各個(gè)區域上分配的不同的扇區數量,<BR>從而計算出最大的物理容量。</P>
<
> 這些參數一般存放在普通用戶(hù)訪(fǎng)問(wèn)不到的位置,有些是在物理零磁道以前,可以認為是在<BR>負磁道的位置?赡苊總(gè)參數占用一個(gè)模塊,也可能幾個(gè)參數占用同一模塊。模塊大小不一樣,<BR>有些模塊才一個(gè)字節,有些則達到64K字節。這些參數并不是連續存放的,而是各有各的固定<BR>位置。</P>
<P> 讀出內部初始化參數表后,就可以分析出每個(gè)模塊是否處于正常狀態(tài)。當然,也可以修正<BR>這些參數,重新寫(xiě)回盤(pán)片中指定的位置。這樣,就可以把一些因為參數錯亂而無(wú)法正常使用的<BR>硬盤(pán)“修復”回正常狀態(tài)。</P>
<P> 如果讀者有興趣進(jìn)一步研究,不妨將硬盤(pán)電路板上的ROM芯片取下,用寫(xiě)碼機讀出其中的<BR>BIOS程序,可以在程序段中找到以上所列出的參數名稱(chēng)。<BR></P>
作者:
whb761
時(shí)間:
2005-8-4 21:48
<
>硬盤(pán)修復之低級格式化</P>
<
> 熟悉硬盤(pán)的人都知道,在必要的時(shí)候需要對硬盤(pán)做“低級格式化”(下面簡(jiǎn)稱(chēng)“低格”)。<BR>進(jìn)行低格所使用的工具也有多種:有用廠(chǎng)家專(zhuān)用設備做的低格,有用廠(chǎng)家提供的軟件工具做的<BR>低格,有用DM工具做的低格,有用主板BIOS中的工具做的低格,有用Debug工具做的低格,<BR>還有用專(zhuān)業(yè)軟件做低格……</P>
<
> 不同的工具所做的低格對硬盤(pán)的作用各不一樣。有些人覺(jué)得低格可以修復一部分硬盤(pán),<BR>有些人則覺(jué)得低格十分危險,會(huì )嚴重損害硬盤(pán)。高朋用過(guò)多種低格工具,認為低格是修復<BR>硬盤(pán)的一個(gè)有效手段。下面總結一些關(guān)于低格的看法,與廣大網(wǎng)友交流。</P>
<P> 大家關(guān)心的一個(gè)問(wèn)題:“低格過(guò)程到底對硬盤(pán)進(jìn)行了什么操作?”實(shí)踐表明低格過(guò)程有<BR>可能進(jìn)行下列幾項工作,不同的硬盤(pán)的低格過(guò)程相差很大,不同的軟件的低格過(guò)程也相差很大。</P>
<P><BR> A. 對扇區清零和重寫(xiě)校驗值</P>
<P> 低格過(guò)程中將每個(gè)扇區的所有字節全部置零,并將每個(gè)扇區的校驗值也寫(xiě)回初始值,<BR>這樣可以將部分缺陷糾正過(guò)來(lái)。譬如,由于扇區數據與該扇區的校驗值不對應,通常就被<BR>報告為校驗錯誤(ECC Error)。如果并非由于磁介質(zhì)損傷,清零后就很有可能將扇區數據<BR>與該扇區的校驗值重新對應起來(lái),而達到“修復”該扇區的功效。這是每種低格工具和每種<BR>硬盤(pán)的低格過(guò)程最基本的操作內容,同時(shí)這也是為什么通過(guò)低格能“修復大量壞道”的基本<BR>原因。另外,DM中的Zero Fill(清零)操作與IBM DFT工具中的Erase操作,也有同樣的功效。<BR></P>
作者:
whb761
時(shí)間:
2005-8-4 21:49
<
> B. 對扇區的標識信息重寫(xiě)</P>
<
> 在多年以前使用的老式硬盤(pán)(如采用ST506接口的硬盤(pán)),需要在低格過(guò)程中重寫(xiě)每個(gè)<BR>扇區的標識(ID)信息和某些保留磁道的其他一些信息,當時(shí)低格工具都必須有這樣的功能。<BR>但現在的硬盤(pán)結構已經(jīng)大不一樣,如果再使用多年前的工具來(lái)做低格會(huì )導致許多令人痛苦的<BR>意外。難怪經(jīng)常有人在痛苦地高呼:“危險!切勿低格硬盤(pán)!我的硬盤(pán)已經(jīng)毀于低格!”</P>
<
><BR> C. 對扇區進(jìn)行讀寫(xiě)檢查,并嘗試替換缺陷扇區</P>
<P> 有些低格工具會(huì )對每個(gè)扇區進(jìn)行讀寫(xiě)檢查,如果發(fā)現在讀過(guò)程或寫(xiě)過(guò)程出錯,就認為該<BR>扇區為缺陷扇區。然后,調用通用的自動(dòng)替換扇區(Automatic reallocation sector)指令,<BR>嘗試對該扇區進(jìn)行替換,也可以達到“修復”的功效。</P>
<P> D. 對所有物理扇區進(jìn)行重新編號</P>
<P> 編號的依據是P-list中的記錄及區段分配參數(該參數決定各個(gè)磁道劃分的扇區數),<BR>經(jīng)過(guò)編號后,每個(gè)扇區都分配到一個(gè)特定的標識信息(ID)。編號時(shí),會(huì )自動(dòng)跳過(guò)P-list<BR>中所記錄的缺陷扇區,使用戶(hù)無(wú)法訪(fǎng)問(wèn)到那些缺陷扇區(用戶(hù)不必在乎永遠用不到的地方<BR>的好壞)。如果這個(gè)過(guò)程半途而廢,有可能導致部分甚至所有扇區被報告為標識不對<BR>(Sector ID not found, IDNF)。要特別注意的是,這個(gè)編號過(guò)程是根據真正的物理參數來(lái)<BR>進(jìn)行的,如果某些低格工具按邏輯參數(以 16heads 63sector為最典型)來(lái)進(jìn)行低格,是不<BR>可能進(jìn)行這樣的操作。</P>
<P> E. 寫(xiě)磁道伺服信息,對所有磁道進(jìn)行重新編號</P>
<P> 有些硬盤(pán)允許將每個(gè)磁道的伺服信息重寫(xiě),并給磁道重新賦予一個(gè)編號。編號依據<BR>P-list或TS記錄來(lái)跳過(guò)缺陷磁道(defect track),使用戶(hù)無(wú)法訪(fǎng)問(wèn)(即永遠不必使用)<BR>這些缺陷磁道。這個(gè)操作也是根據真正的物理參數來(lái)進(jìn)行。<BR></P>
作者:
whb761
時(shí)間:
2005-8-4 21:50
<
>F. 寫(xiě)狀態(tài)參數,并修改特定參數</P>
<
> 有些硬盤(pán)會(huì )有一個(gè)狀態(tài)參數,記錄著(zhù)低格過(guò)程是否正常結束,如果不是正常結束低格,<BR>會(huì )導致整個(gè)硬盤(pán)拒絕讀寫(xiě)操作,這個(gè)參數以富士通IDE硬盤(pán)和希捷SCSI硬盤(pán)為典型。有些硬盤(pán)<BR>還可能根據低格過(guò)程的記錄改寫(xiě)某些參數。</P>
<
> 下面我們來(lái)看看一些低格工具做了些什么操作:</P>
<P> 1. DM中的Low level format</P>
<P> 進(jìn)行了A和B操作。速度較快,極少損壞硬盤(pán),但修復效果不明顯。</P>
<P> 2. Lformat</P>
<P> 進(jìn)行了A、B、C操作。由于同時(shí)進(jìn)行了讀寫(xiě)檢查,操作速度較慢,可以替換部分缺陷扇區。<BR>但其使用的是邏輯參數,所以不可能進(jìn)行D、E和F的操作。遇到IDNF錯誤或伺服錯誤時(shí)很難<BR>通過(guò),半途會(huì )中斷。<BR></P>
作者:
whb761
時(shí)間:
2005-8-4 21:50
<
><BR> 3. SCSI卡中的低格工具</P>
<
> 由于大部SCSI硬盤(pán)指令集通用,該工具可以對部分SCSI硬盤(pán)進(jìn)行A、B、C、D、F操作,對<BR>一部分SCSI硬盤(pán)(如希捷)修復作用明顯。遇到缺陷磁道無(wú)法通過(guò)。同時(shí)也由于自動(dòng)替換功能,<BR>檢查到的缺陷數量超過(guò)G-list限度時(shí)將半途結束,硬盤(pán)進(jìn)入拒絕讀寫(xiě)狀態(tài)。</P>
<
> 4. 專(zhuān)業(yè)的低格工具</P>
<P> 一般進(jìn)行A、B、D、E、F操作。通常配合伺服測試功能(找出缺陷磁道記入TS),介質(zhì)<BR>測試功能(找出缺陷扇區記入P-list),使用的是廠(chǎng)家設定的低格程序(通常存放在BIOS或<BR>某一個(gè)特定參數模塊中),自動(dòng)調用相關(guān)參數進(jìn)行低格。一般不對缺陷扇區進(jìn)行替換操作。<BR>低格完成后會(huì )將許多性能參數設定為剛出廠(chǎng)的狀態(tài)。<BR></P>
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