CONTROLLER TEST 控制器測試
Cyclic reading state register 反復讀狀態(tài)寄存器
Sector buffer test 扇區緩存測試
Cyclic writing to a sector 反復寫(xiě)入一個(gè)扇區
Cyclic reading of a sector 反復讀取一個(gè)扇區
IRQ test 硬中斷請求IRQ測試
Drive self-diagnoistics 硬盤(pán)驅動(dòng)器自診斷
Drive reset 硬盤(pán)驅動(dòng)器復位
Exit 退出
Cyclic reading state register 反復讀狀態(tài)寄存器 ---這項測試是為了檢查主機與硬盤(pán)驅動(dòng)器的微控制器之間的總線(xiàn), 適用于如下情況: 硬盤(pán)驅動(dòng)器對從主機送來(lái)的ATA命令不響應, 錯誤的解釋執行命令, 或者硬盤(pán)驅動(dòng)器總是處于忙狀態(tài)--狀態(tài)寄存器的BSY(忙)位總是活動(dòng)的. 在測試時(shí)會(huì )對狀態(tài)寄存器進(jìn)行反復的讀, 此時(shí)可以利用一臺示波器來(lái)幫助查找總線(xiàn)故障. 反復讀取可以按鍵來(lái)中斷.
當測試開(kāi)始時(shí), PC-3000AT會(huì )顯示如下消息:
The state register read cycle is performed (在進(jìn)行狀態(tài)寄存器讀)
在測試執行時(shí)狀態(tài)寄存器和錯誤寄存器的LEDS指示燈不會(huì )活動(dòng). 你可以按PC-3000AT鍵盤(pán)(在數字小鍵盤(pán)上)上的任意鍵中斷測試, 或者按[Exit]鍵中斷測試隨后退回到主菜單.
IRQ test 硬中斷請求測試 --這項測試用于檢查通過(guò)硬盤(pán)驅動(dòng)器IDE接口的40針連接器第31針發(fā)出的中斷請求信號.
IRQ12 第12號硬件中斷必須在電腦上沒(méi)有被其它設備使用才可進(jìn)行這個(gè)測試, 否則測試會(huì )導致錯誤.
Sector buffer test 扇區緩存測試--這項測試用于檢查硬盤(pán)驅動(dòng)器的內部數據總線(xiàn), 總線(xiàn)上的總線(xiàn)驅動(dòng)器部件, ATA接口控制器的內部總線(xiàn), 以及扇區緩存區域 buffer RAM MC. 這項測試會(huì )執行標準ATA命令"寫(xiě)緩存"和"讀緩存". 首先代碼FF,FE,FD,FB,及F7,... 和代碼00,01,02,04,08,10,... 被寫(xiě)入扇區緩存, 隨后從扇區緩存中讀出并與寫(xiě)入的數據比較.
當這項測試開(kāi)始時(shí), 屏幕上會(huì )顯示如下消息:
Sector buffer is being performed. 正在進(jìn)行扇區緩存測試
如果在測試期間沒(méi)有檢測到錯誤, 在測試結束時(shí)會(huì )顯示如下消息:
Sector buffer test 扇區緩存測試
No errors 沒(méi)有錯誤
Test complete 測試完成
如果在測試期間檢測到一個(gè)錯誤, 測試結束時(shí)會(huì )顯示如下形式的消息:
Sector buffer test 扇區緩存測試
ERROR 錯誤
Code written:0000000000000000 寫(xiě)入代碼為 :000000000000000作者: 我喜歡 時(shí)間: 2006-12-3 18:46
Code read: 0000000011111111 讀出代碼為 :000000001111111
Test complete 測試完成
注意, 老型號的SAMSUNG(三星)和KALOK(XEBEC)硬盤(pán)驅動(dòng)器與ATA標準有些不兼容. 在這種硬盤(pán)驅動(dòng)器進(jìn)行扇區緩存測試會(huì )報告錯誤.
Cyclic writing to a sector 反復寫(xiě)入一個(gè)扇區--這項測試用于檢查硬盤(pán)驅動(dòng)器的寫(xiě)通道和寫(xiě)預補償電路. 測試期間一個(gè)短的0000H代碼會(huì )反復寫(xiě)到在硬盤(pán)驅動(dòng)器上的一個(gè)扇區上. 此時(shí)可以利用一臺示波器來(lái)查找故障.
注意! 寫(xiě)入選定的扇區會(huì )破壞用戶(hù)的數據.
測試開(kāi)始時(shí), PC-3000AT會(huì )在屏幕上顯示如下消息:
Cyclic writing to a sector 反復寫(xiě)入一個(gè)扇區
相應的, 你應該輸入數據要被寫(xiě)入的柱面號, 磁頭號, 和扇區號. 這里所說(shuō)的柱面號, 磁頭號, 和扇區號要按照下面的公式:
Cylinder :0-(N-1) 柱面號 0 到 N-1 之間
Head :0- (M-1) 磁頭號 0 到 M-1 之間
Sector :1-K 扇區號 1 到 K 之間
這里, N,M,和K分別代表被測硬盤(pán)驅動(dòng)器的最大柱面號, 最大磁頭號和最大扇區號.
"LBA mode" 在LBA模式下，你應該輸入數據將要被寫(xiě)入的扇區的LBA扇區號.
輸入完成后, 按[Enter]鍵, 測試會(huì )開(kāi)始.
Cyclic writing to a sector 反復寫(xiě)入一個(gè)扇區
Cylinder: XXXX 柱面號
Head: X 磁頭號
Sector: XX 扇區號
Running 正在運行
Cyclic reading of a sector 反復讀取一個(gè)扇區--這項測試且用于檢查硬盤(pán)驅動(dòng)器的讀通道, 數據分離電路和空閑時(shí)鐘脈沖信號. 測試時(shí)會(huì )反復的的讀取一個(gè)扇區. 此時(shí)可以利用示波器來(lái)查找故障. 當測試開(kāi)始時(shí)PC-300AT會(huì )在屏幕上顯示如下的消息:
Cyclic reading of a sector 反復讀取一個(gè)扇區
相應的, 你應該輸入數據要被讀取的柱面號, 磁頭號, 和扇區號. 這時(shí)所說(shuō)的柱面號, 磁頭號, 和扇區號要按照下面的公式:
Complex test 綜合測試 -由用戶(hù)輸入參數,PC-3000AT輸出信息操控形式的工作模式.
綜合測試期間按順序執行下列測試:
Controller test 控制器測試
IRQ test 硬件中斷請求IRQ測試
Sector buffer test 扇區緩存測試
Recalibration test 磁頭重新較準測試
Format check 格式化檢查
Random reading 隨機讀取
Surface scanning 表面掃描
測試輸出信息顯示在屏幕的STATE狀態(tài)欄和狀態(tài)寄存器，錯誤寄存器LED指示燈上.狀態(tài)欄包括:
各個(gè)測試項目從主菜單"TESTING MODE SELECTION 測試模式選擇"中選出, 屏幕上會(huì )顯示以下消息:
ATTENTION! 注意!
Testing will destroy your data 測試會(huì )破壞你的數據
start cylinder: X 開(kāi)始柱面: X
end cylinder: XXXX 結束柱面：XXXX
do write test: Yes 進(jìn)行寫(xiě)入測試：是
press [Enter] or [Cancel] 按[Enter]或[Cancel]鍵
