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標題: 發(fā)點(diǎn)內存資料 [打印本頁(yè)]

作者: yeli008    時(shí)間: 2015-2-22 22:15
標題: 發(fā)點(diǎn)內存資料
SDRAM內存的維修

一、用萬(wàn)用表測量?jì)却嫘酒姆椒?br /> 在主板與內存的數據引腳是64個(gè),D0-D63,為了保護內存的數據位腳,在D0-D63這64個(gè)數據位腳都加有一個(gè)阻值不大的電阻(10歐)
起限流作用。而測試儀主要的原理是用程序重復測試內存芯片的每個(gè)數據位引腳,看有沒(méi)有擊穿或短路的數據位引腳,還有就是芯片的
時(shí)鐘引腳、地址引腳。
所以用萬(wàn)用表測試芯片時(shí)也可用測試儀的方法來(lái)測,只要紅筆對地(1腳),黑筆測量排陰阻的阻值,就是內存芯片數據位的阻值來(lái)判斷
是哪個(gè)芯片壞了,正常的話(huà)每個(gè)數據位阻值相同。但還是沒(méi)有測試儀那么直觀(guān),用這種方法可測量DDR內存芯片的好壞。
二、 用測試儀測量?jì)却嫘酒椒?br /> 根據使用說(shuō)明書(shū),測量的內存在2A、2B這里,指單組和雙組的意思。但16位的芯片有8個(gè),也相當于是兩組,8位的芯片有16個(gè)也相當于
兩組。
2A為第二組,2B為第一組。
測量時(shí)會(huì )循環(huán)測試每一組中的每一個(gè)芯片的數據位腳。一般測了3次—5次沒(méi)壞就是好的。好的芯片為:PASS。壞的芯片就顯示出壞的數據
位引腳。
1、 開(kāi)機跳不進(jìn)測試,一般有:芯片短路、PCB板短路。解決方法為把芯片拆下來(lái)?yè)Q到好的PCB板上試芯片好壞,看是什么問(wèn)題。
2、 內存測試儀不測試SPD芯片,SPD芯片可有可無(wú)
3、 金手指燒了的話(huà)也不能測試,必須把芯片拆下?lián)Q到好的PCB板上試芯片好壞



作者: boboxin    時(shí)間: 2015-2-24 15:56
正在找,謝謝LZ




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