常見(jiàn)電子元器件檢測經(jīng)驗和技巧(二)

IC的常用檢測方法


　   現在的電子產(chǎn)品往往由于一塊集成電路損壞，導致一部分或幾個(gè)部分不能正常工作，影響設備的正常使用。那么如何檢測集成電路的好壞呢?通常一臺設備里面有許多個(gè)集成電路，當拿到一部有故障的集成電路的設備時(shí)，首先要根據故障現象，判斷出故障的大體部位，然后通過(guò)測量，把故障的可能部位逐步縮小，最后找到故障所在。 要找到故障所在必須通過(guò)檢測，通常修理人員都采用測引腳電壓方法來(lái)判斷，但這只能判斷出故障的大致部位，而且有的引腳反應不靈敏，甚至有的沒(méi)有什么反應。就是在電壓偏離的情況下，也包含外圍元件損壞的因素，還必須將集成塊內部故障與外圍故障嚴格區別開(kāi)來(lái)，因此單靠某一種方法對集成電路是很難檢測的，必須依賴(lài)綜合的檢測手段。
現以萬(wàn)用表檢測為例，介紹其具體方法。 我們知道，集成塊使用時(shí)，總有一個(gè)引腳與印制電路板上的“地”線(xiàn)是焊通的，在電路中稱(chēng)之為接地腳。由于集成電路內部都采用直接耦合，因此，集成塊的其它引腳與接地腳之間都存在著(zhù)確定的直流電阻，這種確定的直流電阻稱(chēng)為該腳內部等效直流電阻，簡(jiǎn)稱(chēng)R內。當我們拿到一塊新的集成塊時(shí)，可通過(guò)用萬(wàn)用表測量各引腳的內部等效直流電阻來(lái)判斷其好壞，若各引腳的內部等效電阻R內與標準值相符，說(shuō)明這塊集成塊是好的，反之若與標準值相差過(guò)大，說(shuō)明集成塊內部損壞。
測量時(shí)有一點(diǎn)必須注意，由于集成塊內部有大量的三極管，二極管等非線(xiàn)性元件，在測量中單測得一個(gè)阻值還不能判斷其好壞，必須互換表筆再測一次，獲得正反向兩個(gè)阻值。只有當R內正反向阻值都符合標準，才能斷定該集成塊完好。 在實(shí)際修理中，通常采用在路測量。先測量其引腳電壓，如果電壓異常，可斷開(kāi)引腳連線(xiàn)測接線(xiàn)端電壓，以判斷電壓變化是外圍元件引起，還是集成塊內部引起。也可以采用測外部電路到地之間的直流等效電阻(稱(chēng)R外)來(lái)判斷，通常在電路中測得的集成塊某引腳與接地腳之間的直流電阻(在路電阻)，實(shí)際是R內與R外并聯(lián)的總直流等效電阻。在修理中常將在路電壓與在路電阻的測量方法結合使用。有時(shí)在路電壓和在路電阻偏離標準值，并不一定是集成塊損壞，而是有關(guān)外圍元件損壞，使R外不正常，從而造成在路電壓和在路電阻的異常。這時(shí)便只能測量集成塊內部直流等效電阻，才能判定集成塊是否損壞。
根據實(shí)際檢修經(jīng)驗，在路檢測集成電路內部直流等效電阻時(shí)可不必把集成塊從電路上焊下來(lái)，只需將電壓或在路電阻異常的腳與電路斷開(kāi)，同時(shí)將接地腳也與電路板斷開(kāi)，其它腳維持原狀，測量出測試腳與接地腳之間的R內正反向電阻值便可判斷其好壞。 例如，電視機內集成塊TA7609P?腳在路電壓或電阻異常，可切斷?腳和⑤腳(接地腳)然后用萬(wàn)用表內電阻擋測?腳與⑤腳之間電阻，測得一個(gè)數值后，互換表筆再測一次。若集成塊正常應測得紅表筆接地時(shí)為8.2kΩ ，黑表筆接地時(shí)為272kΩ的R內直流等效電阻，否則集成塊已損壞。
在測量中多數引腳，萬(wàn)用表用R×1k擋，當個(gè)別引腳R內很大時(shí)，換用R×10k擋，這是因為R×1k擋其表內電池電壓只有1.5V，當集成塊內部晶體管串聯(lián)較多時(shí)，電表內電壓太低，不能供集成塊內晶體管進(jìn)入正常工作狀態(tài)，數值無(wú)法顯現或不準確。 總之，在檢測時(shí)要認真分析，靈活運用各種方法，摸索規律，做到快速、準確找出故障。
一）常用的檢測方法
集成電路常用的檢測方法有在線(xiàn)測量法、非在線(xiàn)測量法和代換法。
1．非在線(xiàn)測量 非在線(xiàn)測量潮在集成電路未焊入電路時(shí)，通過(guò)測量其各引腳之間的直流電阻值與已知正常同型號集成電路各引腳之間的直流電阻值進(jìn)行對比，以確定其是否正常。
2．在線(xiàn)測量 在線(xiàn)測量法是利用電壓測量法、電阻測量法及電流測量法等，通過(guò)在電路上測量集成電路的各引腳電壓值、電阻值和電流值是否正常，來(lái)判斷該集成電路是否損壞。
3．代換法 代換法是用已知完好的同型號、同規格集成電路來(lái)代換被測集成電路，可以判斷出該集成電路是否損壞。
（二）常用集成電路的檢測
1．微處理器集成電路的檢測 微處理器集成電路的關(guān)鍵測試引腳是VDD電源端、RESET復位端、XIN晶振信號輸入端、XOUT晶振信號輸出端及其他各線(xiàn)輸入、輸出端。在路測量這些關(guān)鍵腳對地的電阻值和電壓值，看是否與正常值（可從產(chǎn)品電路圖或有關(guān)維修資料中查出）相同。不同型號微處理器的RESET復位電壓也不相同，有的是低電平復位，即在開(kāi)機瞬間為低電平，復位后維持高電平；有的是高電平復位，即在開(kāi)關(guān)瞬間為高電平，復位后維持低電平。
2．開(kāi)關(guān)電源集成電路的檢測 開(kāi)關(guān)電源集成電路的關(guān)鍵腳電壓是電源端（VCC）、激勵脈沖輸出端、電壓檢測輸入端、電流檢測輸入端。測量各引腳對地的電壓值和電阻值，若與正常值相差較大，在其外圍元器件正常的情況下，可以確定是該集成電路已損壞。 內置大功率開(kāi)關(guān)管的厚膜集成電路，還可通過(guò)測量開(kāi)關(guān)管C、B、E極之間的正、反向電阻值，來(lái)判斷開(kāi)關(guān)管是否正常。
3．音頻功放集成電路的檢測 檢查音頻功放集成電路時(shí)，應先檢測其電源端（正電源端和負電源端）、音頻輸入端、音頻輸出端及反饋端對地的電壓值和電阻值。若測得各引腳的數據值與正常值相差較大，其外圍元件與正常，則是該集成電路內部損壞。對引起無(wú)聲故障的音頻功放集成電路，測量其電源電壓正常時(shí)，可用信號干擾法來(lái)檢查。測量時(shí)，萬(wàn)用表應置于R×1檔，將紅表筆接地，用黑表筆點(diǎn)觸音頻輸入端，正常時(shí)揚聲器中應有較強的“喀喀”聲。
4．運算放大器集成電路的檢測 用萬(wàn)用表直流電壓檔，測量運算放大器輸出端與負電源端之間的電壓值（在靜態(tài)時(shí)電壓值較高）。用手持金屬鑷子依次點(diǎn)觸運算放大器的兩個(gè)輸入端（加入干擾信號），若萬(wàn)用表表針有較大幅度的擺動(dòng)，則說(shuō)明該運算放大器完好；若萬(wàn)用表表針不動(dòng)，則說(shuō)明運算放大器已損壞。
5．時(shí)基集成電路的檢測 時(shí)基集成電路內含數字電路和模擬電路，用萬(wàn)用表很難直接測出其好壞�？梢杂萌鐖D9-13所示的測試電路來(lái)檢測時(shí)基集成電路的好壞。測試電路由阻容元件、發(fā)光二極管LED、6V直流電源、電源開(kāi)關(guān)S和8腳IC插座組成。將時(shí)基集成電路（例如NE555）插信IC插座后，按下電源開(kāi)關(guān)S，若被測時(shí)基集成電路正常，則發(fā)光二極管LED將閃爍發(fā)光；若LED不亮或一直亮，則說(shuō)明被測時(shí)基集成電路性能不良

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高手老師謝謝了