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RST442.rar
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2010-8-14 21:50 上傳
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RST下載(光盤(pán)版) 及使用方法。
Ram Stress Test是美國Ultra-X公司旗下的一個(gè)專(zhuān)業(yè)記憶體測試程式,是專(zhuān)門(mén)給系統生產(chǎn)廠(chǎng)商出機前用的測試程式,他其實(shí)是從其他的產(chǎn)品獨立出來(lái)的一項測試,該公司專(zhuān)作系統測試的軟硬體,方便生產(chǎn)廠(chǎng)商將產(chǎn)品做詳細測試,至于R.S.T.在目前記憶體生產(chǎn)業(yè)使用非常普遍,因為經(jīng)過(guò)他的測試幾乎就能應付大部分的記憶體問(wèn)題,所以是非常好用的一個(gè)測試工具!
使用非常簡(jiǎn)易,只要設定為軟碟開(kāi)機就行了,他是一個(gè)獨立開(kāi)發(fā)的系統,沒(méi)有依附任何作業(yè)系統,相容于x86系列,只要BIOS認的到的容量他都能測!
發(fā)現 ATS 選項錯誤,在BIOS中,記憶體選項設成Auto時(shí),記憶體的CL=2,改成Manual,自設CL=2.5時(shí),上述選項才能通過(guò)。
附件IMZ需要用winImage展開(kāi)到軟盤(pán)上,然后用此軟盤(pán)啟動(dòng)系統。
附件NRG是用Nero燒錄可啟動(dòng)光盤(pán)的軟盤(pán)鏡像文件。
程序執行后,第一選項是測試物理內存中基本內存地址(<640K),第二項是擴展內存地址,第三項是測試你CPU的L2 cache。
☆ 可以測試SD及DDR內存。
☆ 閃動(dòng)數字——0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF 0123456789ABCDEF0123456789ABCDEF
依次代表內存條的8顆顆粒。
從左到右橫著(zhù)數:0-7代表第1顆粒區域、8-F代表第2顆粒、0-7代表第3顆粒、8-F代表第4顆粒、0-7代表第5顆粒代、8-F代表第6顆粒、0-7代表第7顆粒、8-F代表第8顆粒
☆ 點(diǎn)不亮內存的測試方法——很多內存短路或者顆粒損壞后都不能點(diǎn)亮,點(diǎn)不亮的可以用一根好的內存去帶動(dòng)它(可解決部分點(diǎn)不亮問(wèn)題)。必須SD的帶SD的,DDR的帶DDR的。本軟件會(huì )自動(dòng)跳過(guò)好的去檢測壞的那根。
☆ 發(fā)現 ATS 選項錯誤,在BIOS中,記憶體選項設成Auto時(shí),記憶體的CL=2,改成Manual,自設CL=2.5時(shí),上述選項才能通過(guò)。
☆ 程序執行后,第一選項是測試物理內存中基本內存地址(<640K),第二項是擴展內存地址,第三項是測試CPU的 L2 cache。
RAM測試軟件說(shuō)明書(shū)
(R.S.T )UX版
閃動(dòng)的一排測試數字代表內存8顆粒的測試情況。
從左至右,0-7代表第一區域,8-F代表第二區域;0-7代表第三區域,8-F代表第四區域;……依次代表內存條的8顆顆粒。
⒈DDR8位與16位的單面測法:
⑴. 0-7(1 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第1顆粒已經(jīng)損壞
⑵. 8-F(2 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第2顆粒已經(jīng)損壞
⑶. 0-7(3 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第3顆粒已經(jīng)損壞
⑷. 8-F(4 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第4顆粒已經(jīng)損壞
⑸. 0-7(5 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第5顆粒已經(jīng)損壞
⑹. 8-F(6 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第6顆粒已經(jīng)損壞
⑺. 0-7(7 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第7顆粒已經(jīng)損壞
⑻. 8-F(8 )區域如果出現亂碼,代表這根DDR內存條的第8顆粒已經(jīng)損壞
注意DR的顆粒排列循序是1-2-3-4-5-6-7-8
⒉如果你是128M的雙面DDR內存,如以上顯示界面圖:
1-16M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------
16-32M -------------------------------------------------------------------------------------------------------
32-48M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------
48-64M-------------------------------------------------------------------------------------------------------------
從1M到64M的上面的4根虛線(xiàn)上出現亂碼的話(huà),說(shuō)明這根內存的的第一面的顆粒有問(wèn)題(判斷哪個(gè)顆粒的好壞按照以上的說(shuō)明)
64-80M ------------------------------------------------------------------------------------------------------------
80-96M -------------------------------------------------------------------------------------------------------
96-112M------------------------------------------------------------------------------------------------------------
112-128M----------------------------------------------------------------------------------------------------------
從64M到128M的上面的4根虛線(xiàn)上出現亂碼的話(huà),說(shuō)明這根內存的的第二面的顆粒有問(wèn)題(判斷哪個(gè)顆粒的好壞按照以上的說(shuō)明)
注意:在內存的PCB板上的兩邊標著(zhù)1與92的代表第一面,93與184的代表第二面。1-128M的8根虛線(xiàn)是用來(lái)區分兩面區域的作用.
⒊SD的8位與16位的單面測法:
⑴. 0-7(1)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第8顆粒已經(jīng)損壞
⑵. 8-F(2)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第4顆粒已經(jīng)損壞
⑶. 0-7(3)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第7顆粒已經(jīng)損壞
⑷. 8-F(4)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第3顆粒已經(jīng)損壞
⑸. 0-7(5)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第6顆粒已經(jīng)損壞
⑹. 8-F(6)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第2顆粒已經(jīng)損壞
⑺. 0-7(7)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第5顆粒已經(jīng)損壞
⑻. 8-F(8)區域如果出現亂碼,代表這根SDR內存條的第1顆粒已經(jīng)損壞
(注: PCB板上從1到84為第一面,顆粒的排列順序從1到84為8-7-6-5-4-3-2-1,切記注意)
4.通過(guò)以上的介紹,說(shuō)明SD的雙面是跟DDR的是一樣的。但是顆粒的好壞判斷要按照
它們的排列循序來(lái)判斷。
5.PCB板的短路或者虛焊的測法:如果在8根虛線(xiàn)上都出現亂碼,說(shuō)明這根內存的PCB板有問(wèn)題
6.點(diǎn)不亮的內存的測試方法: 很多內存短路或者顆粒損壞后都不能點(diǎn)亮,點(diǎn)不亮的可以用一根好的內存去帶動(dòng)它。 必須SD的帶SD的,DDR的帶DDR的。本軟件會(huì )自動(dòng)跳過(guò)好的那根去檢測壞的那根。
7.使用方法:直接把光盤(pán)插入光驅,在主板的CMOS里設置光驅起動(dòng), 啟動(dòng)后本軟件會(huì )自動(dòng)引導到測試界面進(jìn)行檢測
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