用萬(wàn)用表測試內存地方法

大家知道要用軟件測試內存,只有在內存能點(diǎn)亮地狀況下才能測試.要是點(diǎn)不亮地內存需要用專(zhuān)業(yè)地內存測試器,可是價(jià)錢(qián)太高,
想問(wèn)問(wèn)各位,如何樣用萬(wàn)用表準確測試出內存地好壞,莪是新手,請說(shuō)地具體點(diǎn),莪是新手,在此先謝了
一、用萬(wàn)用表丈量?jì)却嫘酒�地方�?br /> 在主板與內存地數據引腳是64個(gè)，D0-D63，為了保護內存地數據位腳，在D0-D63這64個(gè)數據位腳都加有一個(gè)阻值不大地電阻（10歐）
起限流作用。而測試儀首要地原理是用程序重復測試內存芯片地每個(gè)數據位引腳，看是否有擊穿或短路地數據位引腳，還有就是芯片地
時(shí)鐘引腳、地址引腳。
所以用萬(wàn)用表測試芯片時(shí)也可用測試儀地方法來(lái)測，只需紅筆對地（1腳），黑筆丈量排陰阻地阻值，就是內存芯片數據位地阻值來(lái)判別
是哪個(gè)芯片壞了，正常地話(huà)每個(gè)數據位阻值相同。但還是沒(méi)有測試儀那么直觀(guān)，用這種方法可丈量DDR內存芯片地好壞。
二、 用測試儀丈量?jì)却嫘酒�方�?br /> 依據使用說(shuō)明書(shū)，丈量地內存在2A、2B這里，指單組和雙組地意義。但16位地芯片有8個(gè)，也相當于是兩組，8位地芯片有16個(gè)也相當于
兩組。
2A為第二組，2B為第一組。
丈量時(shí)會(huì )循環(huán)測試每一組中地每一個(gè)芯片地數據位腳。通常測了3次—5次沒(méi)壞就是好地。好地芯片為：PASS。壞地芯片就顯現出壞地數據
位引腳。
1、 開(kāi)機跳不進(jìn)測試，通常有：芯片短路、PCB板短路。解決方法為把芯片拆下來(lái)?yè)Q到好地PCB板上試芯片好壞，看是什么情況。
2、 內存測試儀不測試SPD芯片，SPD芯片可有可無(wú)
3、 金手指燒了地話(huà)也不能測試，必需把芯片拆下?lián)Q到好地PCB板上試芯片好壞

好東西啊  學(xué)習學(xué)習

這里真的都是高手啊

看貼不回，沒(méi)人頂我啊

高人，真是高人

好，訂了學(xué)習學(xué)習

thanks !study...

好人 真是高人

值得一試～～～～～～

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硬盤(pán)版的 找了很久了  謝謝~

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學(xué)習過(guò)，我也有跟內存壞了，不知道能不能修好

學(xué)習了   ······

真是高人學(xué)習學(xué)習

好 樓主好帖子

東西真好啊，繼續

非常感謝樓主

huang2418 發(fā)表于 2010-10-3 16:41

                               
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大家知道要用軟件測試內存,只有在內存能點(diǎn)亮地狀況下才能測試.要是點(diǎn)不亮地內存需要用專(zhuān)業(yè)地內存測試器,可是 ...

這個(gè)1從哪里算起��？順序是咋才對��？謝謝

值得一試，頂一下