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本帖最后由 老時(shí) 于 2011-6-28 07:49 編輯
+ |7 d7 N# F4 d4 a7 g" ~; ?7 Z) _! n
前兩天有個(gè)論壇上的朋友問(wèn)我一些問(wèn)題,我答應他發(fā)個(gè)這方面的帖子,希望對新人能有所幫助& _0 o6 u' c+ E4 v
5 q9 ~3 z$ g) ^2 |# L# F1 ]
4 |5 X/ O8 V" D. o/ R& c1筆記本開(kāi)機的前提條件,& V0 x$ ]* U5 Q
第一RTC電路的運作正常圖(1)所示, D" C, y, Y9 E; Y+ a
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2011-6-28 07:41 上傳
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圖上所示,是一個(gè)RTC電路。標識出的是RTC電路的一些主要測試點(diǎn)以及講解3 K5 b$ q$ Z0 e* l: n
6 `! q) }, F& I9 A, j. E
RTC電路損壞一般會(huì )引起以下的不良現象
: V0 S- \! Q; \, t
( ]9 D1 B7 W2 D* Y" o4 h* {1、 不觸發(fā):有待機電流,觸發(fā)開(kāi)關(guān)沒(méi)有反映。3 Z( O( G8 ?6 j. V* i8 _
2、 系統時(shí)鐘不準確(桌面右下角的時(shí)間)) b/ K5 T$ R2 L B6 E, _
3、 CMOS信息不保存. ^$ @, }0 C5 i; e1 r8 p
4、 有時(shí)能開(kāi)機,有時(shí)不開(kāi)機0 t/ A/ @" [4 c6 I2 ^4 t
當出現這些問(wèn)題的時(shí)候我們應該首先測量,. ?% R3 x3 Z/ Y8 G5 J; p2 z
第一步32.768KHZ的晶振是否起振(用示波器可以看到波形,或是萬(wàn)用表測試可以看到兩腳之間存在0.幾V的壓差)。
1 I- \; R; e: t) ~1 W第二步32.768對地二極體值(越500多到700多之間,值過(guò)小表示短路,值過(guò)大表示開(kāi)路)。
. k+ p1 i! ~ K! K第三步 測量VCCRTC電壓是否已經(jīng)產(chǎn)生,COMS電池電壓是否大于2.5V
: M4 n# _/ U; y( ?5 N! R第四步 開(kāi)機引腳是否有電壓,開(kāi)機按鍵是否有損壞* ?, e [# ?8 M+ G: A( i
第五步 若晶振起振不是很準確的32.768 這時(shí)我們應該先換32.768的諧振電容。
1 y m. W$ A" {- X/ G; _: S2 Q9 N( Y& G
RTC電路出現以上問(wèn)題,一般是 SB、EC、COMS電池、BIOS、32.768及RTC電路損壞
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2011-6-28 07:43 上傳
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圖上所示,是一個(gè)隔離保護電路。標識出的是隔離電路的一些主要測試點(diǎn)以及講解
9 f. v- M$ D7 `5 I! B當隔離保護電路損壞一般會(huì )出現以下現象8 s' W5 I/ X) P
1、 無(wú)待機電流,不開(kāi)機8 L/ e6 K3 A2 `# B0 O
2、 有待機電流不開(kāi)機
7 X% j+ m1 `0 r, V( O5 U3、 電源不可開(kāi)機電池可開(kāi)機
9 @$ f: m# p; @' |& e' T' E: \4、 大短路
- G. H& _9 `9 X* L' h
2 e6 q' \1 H* d2 C1 l) d% o第一步 當P溝道管損壞是PWR無(wú)法導通P溝道管,到時(shí)后級VIN無(wú)電壓,這樣主板上也就沒(méi)有了供電,待機電路不會(huì )工作,所以不可以開(kāi)機,用萬(wàn)用表二極體檔可以測的P溝道管的好壞(測量方法參照場(chǎng)效應管篇節)
/ S* C( u2 ]5 _( G第二部,無(wú)待機是先用萬(wàn)用表去測VIN點(diǎn),是否有電壓。當VIN點(diǎn)沒(méi)有電壓是我們在測P溝道管的輸入級(S)和輸出級(D)是否有電壓。及G級的控制端電壓,隔離電路問(wèn)題有大部分都是由于G級電壓高,而導致P溝道場(chǎng)館載止。這樣我們要一步步追查導致G級電壓高的原因,給以排除
0 ^( q% G1 O- T, G& K5 K p第三步 當筆記本隔離電路短路的時(shí)候,一般電流都會(huì )很大,燒毀的原件比較明顯,很多都會(huì )燒糊掉。當這部分電路短路,我們一般要測量 PWR濾波電容,穩壓二極管、以及抗干擾電感。和P溝道場(chǎng)館。
% k2 K7 K' b6 C3 ^" `& c' E& r2 ]+ v9 z9 ]/ n
第四步,我們要明白的清楚的知道一點(diǎn),P溝道場(chǎng)館要想它的G級電壓成低電位(P溝道場(chǎng)館低電位導通)電路必定有個(gè)AC_OFF的信號來(lái)控制它,這個(gè)AC_OFF的信號產(chǎn)生的條件一定是在VIN產(chǎn)生之前。在VIN產(chǎn)生之前我們筆記本上一般只有 RTC電路有電壓還有一個(gè)就是PWR電源電壓這個(gè)是我們的測試關(guān)鍵點(diǎn)。5 p! P' a) `& y, Y5 N
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2011-6-28 07:44 上傳
, H& E: `: A T圖上所示,是一個(gè)電池充放電電路。標識出的是電池充放電電路的一些主要測試點(diǎn)以及講解8 g0 `1 H i5 b' Y
, Y2 Y$ H% V5 S# J1 R P& v電池充放電電路損壞一般會(huì )引起以下的不良現象
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- h `0 @5 W) X1、 電池不可以正常充放電! l0 I# ~, y1 p' n
2、 電池報錯
; |8 V5 \9 Z( @2 x. x V3、 不開(kāi)機,或是電池無(wú)法開(kāi)機- v1 z4 A( p3 O, K: e: B
當出現這些問(wèn)題的時(shí)候我們應該首先測量,# V6 N' q5 K" ~3 {
第一步 我們應該測量電源供電與電池供電的公共點(diǎn)是否有電壓。如果沒(méi)有電壓可是修兩路供電。% j7 D, _ D: Z0 M/ Q/ n( C2 K% o
第二步 測量場(chǎng)館是否有損壞(參照場(chǎng)館篇節); p5 O$ j# J6 d) v/ A2 |
第三步 測量充放電芯片的工作條件
* n2 ~- L' @# h* {第四步 測量電池的三組信號 數據、時(shí)鐘、溫度、到EC,然后EC在發(fā)出三組信號給充放電芯片來(lái)通知是否充電。2 l5 s8 @8 q8 b% a" V; x
5 R+ Y" \6 r3 o" @6 f& W- T8 z7 s充放電電路出現以上問(wèn)題,一般是EC、充放電芯片、及充放電電路出現問(wèn)題。
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2011-6-28 07:46 上傳
% A; S, H# \6 R: k這是筆記本各組電壓的一個(gè)順序、供給、產(chǎn)生、方框圖、7 y- @8 s4 T0 T5 \2 @/ i7 U
上面基本都有我所做的標識及講解
/ P/ a2 ^1 |, d% T! A) h7 @5 K8 [長(cháng)篇大論的也不好,是哇,哈哈,我就先寫(xiě)這些吧希望對新人有所幫助。有不對的地方還望告訴給以指點(diǎn)啊。% A0 P( `9 K' M: i+ E* O- C% `
以后有機會(huì )我在上傳些其他的電路分析部分,0 F- |+ o( q* ^* |3 c
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