--從停下的位置繼續進(jìn)行測試
--跳過(guò)當前的測試項目;
--跳過(guò)所有的測試項目, 結束測試;
當測試結束時(shí), 會(huì )聽(tīng)到一聲提示信號同時(shí)屏幕上會(huì )顯示如下消息:
Test complete , press [Enter] 測試完成, 按[Enter]鍵
在測試完成的同時(shí), 會(huì )有一個(gè)XXXXXXX.DAT文本文件被創(chuàng )建在DAT子目錄下面, 這里XXXXXXX是從硬盤(pán)驅動(dòng)器讀取的編號. 這個(gè)文件包含測試結果清單, 這些信息也可以在測試完成后按[Enter]鍵顯示在屏幕上. 測試結果清單中的信息包含被測硬盤(pán)驅動(dòng)器的類(lèi)型和參數, 測試的日期和時(shí)間. 結果清單也包含各項測試結果的評定(PASS 通過(guò),或FAIL 失敗), 以及在每項測試中檢測到的錯誤數目(ERRS). 對于每個(gè)檢測到的錯誤后面會(huì )跟上在檢測到這個(gè)錯誤的時(shí)刻的狀態(tài)寄存器的值和錯誤寄存器的值. 測試結果的整體評價(jià)會(huì )在測試結果清單的末尾給出: 測試被中斷, PASS(通過(guò)), FAIL(失敗). 假如在整個(gè)綜合測試過(guò)程中檢測到至少一個(gè)錯誤, 就會(huì )意判定為FAIL失敗. 這是因為如下事實(shí): IDE硬盤(pán)驅動(dòng)器都有用于缺陷重設的容量(一般現代IDE硬盤(pán)驅動(dòng)器會(huì )在每個(gè)盤(pán)片上保留一些扇區, 用于缺陷重設 --譯者注), 因此功能運作完好的硬盤(pán)驅動(dòng)器不會(huì )包含缺陷. 你可以用[Up]鍵 [Down]鍵來(lái)查看測試結果清單列表.
如果在"Surface scaning表面掃描"測試過(guò)程中檢測到了錯誤, 那么在查看測試結果清單之后屏幕上會(huì )顯示如下菜單:
SELECT ACTION 選擇行動(dòng)
Do not relocate defects 不重設缺陷
Relocate detected defects 重設檢測到的缺陷
如果你選擇了"Relocate detected defects 重設檢測到的缺陷"--這會(huì )指定對所有缺陷扇區進(jìn)行缺陷重設. 如果你按下[ESC]鍵, 或者選擇了其它菜單項, 那么不會(huì )重設缺陷.
"LBA mode" 在LBA扇區定址模式下, 不僅可以在"Surface scanning 表面掃描"測試中利用缺陷重設來(lái)隱藏缺陷, 還可在 "Format check 格式化檢查"和" Random reading 隨機讀取"測試中隱藏缺陷.
2.5.5.1 硬盤(pán)驅動(dòng)器綜合測試的組成
Controller test 控制器測試--當這項測試啟動(dòng)時(shí), 會(huì )執行標準ATA命令90H"HDD self-diagnostics硬盤(pán)驅動(dòng)器自診斷". 如果被測硬盤(pán)驅動(dòng)器不能通過(guò)這項控制器測試, 屏幕上會(huì )顯示FAIL(失敗)消息, 同時(shí)結果代碼會(huì )寫(xiě)到測試結果清單中(完整的硬盤(pán)驅動(dòng)器自診斷結果代碼請參看 2.5.4 "Controller test"控制器測試模式)
IRQ test 硬中斷請求測試 --這項測試用于檢查通過(guò)硬盤(pán)驅動(dòng)器IDE接口40針連接器第31針發(fā)出的中斷請求信號.
IRQ12 第12號硬件中斷必須在電腦上沒(méi)有被其它設備使用才可進(jìn)行這個(gè)測試, 否則測試會(huì )導致錯誤.
Sector buffer test 扇區緩存測試--這項測試用于檢查硬盤(pán)驅動(dòng)器的內部數據總線(xiàn), 總線(xiàn)上的總線(xiàn)驅動(dòng)器部件, ATA接口控制器的內部總線(xiàn), 以及扇區緩存區域 buffer RAM MC. 測試算法的細節在2.5.4 "Controller test 控制器測試模式"中描述. 在測試結束后, 如果已經(jīng)檢測到一個(gè)錯誤, 屏幕上會(huì )顯示FAIL(失敗)消息, 同時(shí)對扇區寫(xiě)入和讀出的代碼也會(huì )含入結果清單中.
例如:
Code written:0000000000000000 寫(xiě)入代碼為 :000000000000000
Code read: 0000000011111111 讀出代碼為 :000000001111111
注意! 老型號的SAMSUNG(三星)和KALOK(XEBEC)硬盤(pán)驅動(dòng)器與ATA標準有些不兼容. 在這種硬盤(pán)驅動(dòng)器進(jìn)行扇區緩存測試會(huì )報告錯誤.
Recalibration test 磁頭重新較準測試--當執行這項測試時(shí), 會(huì )執行標準ATA命令10H(重校準磁頭)--(就是磁頭定位零磁道 --譯者注). 在測試結束后, 如果已經(jīng)檢測到一個(gè)錯誤, 屏幕上會(huì )顯示FAIL(失敗)消息, 同時(shí)狀態(tài)寄存器的值和錯誤寄存器的值會(huì )被寫(xiě)到測試結果清單中.
Format check 格式化檢查--這項測試用低級格式化來(lái)檢查IDE硬盤(pán)驅動(dòng)器. 當測試運行時(shí), 測試的進(jìn)度百分比DONE %, 當前活動(dòng)的磁頭號, 當前活動(dòng)的柱面號以及當前已經(jīng)檢測到的錯誤數目會(huì )顯示在狀態(tài)欄上. 狀態(tài)寄存器和錯誤寄存器LED指示燈的狀態(tài)可以用來(lái)判斷格式化檢查中發(fā)現的錯誤的原因. 測試結束會(huì )創(chuàng )建一張檢測到的錯誤列表. 表中每一行的信息包括與檢測到的錯誤有關(guān)的柱面及磁頭號,檢測到錯誤的時(shí)刻的狀態(tài)寄存器的值和錯誤寄存器的值. 這張表最多不超過(guò)50行. 檢測到的錯誤總數會(huì )列在測試結果清單中錯誤列表的后面.
"LBA mode" 在LBA扇區定址模式下, 包含在錯誤列表中的是BAD壞扇區的LBA扇區號而不是BAD壞扇區的柱面,磁頭,扇區號. 缺陷扇區的相關(guān)數據可用于在格式化檢查之后進(jìn)行的缺陷重設過(guò)程.
Random reading 隨機讀取--這項測試用于檢查磁頭定位系統. 測試運行時(shí), 柱面號會(huì )隨機的從0柱面到最大柱面這個(gè)范圍之間隨機的選取. 磁頭號則循環(huán)選取. 磁頭定位過(guò)程進(jìn)行的次數等于硬盤(pán)驅動(dòng)器的柱面總數. 當測試運行時(shí), 當前活動(dòng)的磁頭號, 當前活動(dòng)的柱面號以及當前已經(jīng)檢測到的錯誤數會(huì )顯示在狀態(tài)欄上. 等測試結束, 會(huì )建立一張檢測錯誤列表, 類(lèi)似于格式化檢查過(guò)程建立的列表.這張表最多不超過(guò)50行. 檢測到的錯誤總數會(huì )列在測試結果清單中錯誤列表的后面.
"LBA mode" 在LBA扇區定址模式下, 扇區將從LBA 0扇區到LBA最大扇區號之間的范圍隨機的選取. 磁頭定位過(guò)程進(jìn)行的次數等于1000. 包含在錯誤列表中的是BAD壞扇區的LBA扇區號而不是BAD壞扇區的柱面,磁頭,扇區號. 缺陷扇區的相關(guān)數據可用于在隨機讀取檢查之后進(jìn)行的缺陷重設過(guò)程.
Surface scanning 表面掃描-- 這項測試用于逐個(gè)扇區的掃描硬盤(pán)驅動(dòng)器扇區數據格式中的扇區數據字段(一般IDE硬盤(pán)驅動(dòng)器的每個(gè)扇區上的數據可劃分為扇區地址ID字段和扇區數據字段兩個(gè)部分, 其中扇區數據字段一般為512字節用于存放用戶(hù)數據, 再加4個(gè)字節的用戶(hù)數據CRC校驗碼用于保證數據完整性 --譯者注). 在測試時(shí), 測試代碼6DB6H會(huì )寫(xiě)到磁道上的每一個(gè)扇區上, 隨后再讀出來(lái), 比較寫(xiě)入與讀出的信息. 如果在綜合測試的設置選項中關(guān)閉了寫(xiě)入, 則只進(jìn)行讀取而不進(jìn)行數據比較. 在比較寫(xiě)入與讀出的代碼時(shí), 如果發(fā)現不匹配, 那么就會(huì )在測試結果清單中寫(xiě)入錯誤碼FFH. 當測試運行時(shí), 當前活動(dòng)的磁頭號, 當前活動(dòng)的柱面號以及當前已經(jīng)檢測到的錯誤數目會(huì )顯示在狀態(tài)欄上.狀態(tài)寄存器和錯誤寄存器LED指示燈的狀態(tài)可以用來(lái)判斷表面掃描檢查中發(fā)現的錯誤的原因. 等測試結束, 會(huì )建立一張檢測錯誤列表,表中每一行的信息包括與檢測到的錯誤相關(guān)的柱面及磁頭號,檢測到這個(gè)錯誤的時(shí)刻的狀態(tài)寄存器的值和錯誤寄存器的值. 這張表最多不超過(guò)150行. 檢測到的錯誤總數會(huì )列在測試結果清單中錯誤列表的后面. 缺陷扇區的相關(guān)數據可用于在表面掃描檢查之后進(jìn)行的缺陷重設過(guò)程.
2.5.6 Defects relocation 缺陷重設
這個(gè)模式設計用于在支持缺陷重設機制的硬盤(pán)驅動(dòng)器上重設及隱藏有缺陷存在的壞扇區. 缺陷重設可以在自動(dòng)化表面掃描模式下進(jìn)行, 也可在手動(dòng)輸入壞扇區地址參數的模式下進(jìn)行.
(一般現代的IDE硬盤(pán)驅動(dòng)器會(huì )在每個(gè)盤(pán)片上保留一些扇區, 用于"替換"缺陷扇區, 這稱(chēng)為defect relocation缺陷重設機制 --譯者注)
在以下這幾種情況下不可能進(jìn)行缺陷重設:
--被測硬盤(pán)驅動(dòng)器不支持缺陷重設機制(一般是一些容量不超過(guò)170MB的老型號硬盤(pán), Fujitsu(富士通) Samsung(三星)的某些硬盤(pán)驅動(dòng)器以及其它一些型號的硬盤(pán)驅動(dòng)器.)
--檢測到的錯誤是由損壞的伺服碼引起的, 或者是缺陷位于扇區的標識ID字段處.(錯誤寄存器中IDNF位是活動(dòng)的)( IDNF --IDENTIFICATION NOT FOUND 扇區ID未找到 --譯者注)
(現代IDE硬盤(pán)驅動(dòng)器普遍采用嵌入伺服機制來(lái)進(jìn)行磁頭尋道, 在正常的磁道中嵌入伺服碼, 其中含有磁道編號, 用于磁頭尋道操作, 伺服碼一般由工廠(chǎng)用專(zhuān)用設備寫(xiě)入. 一般硬盤(pán)驅動(dòng)器的每個(gè)扇區上的數據可劃分為扇區地址ID字段和扇區數據字段兩個(gè)部分, 其中扇區數據字段一般為512字節用于存放用戶(hù)數據, 再加4個(gè)字節的用戶(hù)數據CRC校驗碼用于保證數據完整性, 而扇區地址ID字段則會(huì )包含扇區編號及其它一些信息. --譯者注)
--硬盤(pán)驅動(dòng)器保留的用于缺陷重設機制的區域已經(jīng)被全部用于替換缺陷扇區而用完了.
注意! 如果不能對檢測到的全部缺陷進(jìn)行重設, 就只好使用PC-3000AT綜合工具中的設計用于此種型號的硬盤(pán)驅動(dòng)器的專(zhuān)用工具模塊了.
當缺陷重設工作模式啟動(dòng)時(shí), 屏幕上會(huì )顯示如下菜單.
Automatic relocation 自動(dòng)化缺陷重設
Manual relocation 手動(dòng)缺陷重設
Undo relocation 撤消重設
Automatic relocation 在設好限值的情況下進(jìn)行表面掃描, 檢測缺陷并進(jìn)行重設
Manual relocation 手工把缺陷輸入到一個(gè)表中, 隨后用這個(gè)表進(jìn)行缺陷重設
Undo relocation 在設好限值的情況下進(jìn)行自動(dòng)化表面掃描, 并自動(dòng)化撤消對缺陷扇區的重設
2.5.6.1 Automatic relocation 自動(dòng)化缺陷重設
在這個(gè)過(guò)程的開(kāi)始必須輸入掃描的限值和遍數. 掃描過(guò)程會(huì )進(jìn)行格式化檢查, 一旦檢測到一個(gè)錯誤就會(huì )自動(dòng)重設這個(gè)BAD壞扇區.
缺陷掃描過(guò)程會(huì )伴隨如下消息顯示在屏幕上:
Defects relocation procedure running.... 缺陷重設過(guò)程正在進(jìn)行
缺陷重設過(guò)程可以被按[Enter]鍵, [Cancel]鍵 或[Exit]鍵中斷, 那樣屏幕上會(huì )顯示一個(gè)" OPERATOR INTERRUPT 操作者中斷"菜單. 從這個(gè)菜單你可以: |
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