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時(shí)間:200912169 z5 y5 G+ M+ e4 ^
機型:聯(lián)想旭日125& g6 A8 v& ^4 p' v3 L1 k
故障:不觸發(fā)
. M& y; j3 i7 J4 H1 t' v3 N檢修:,待機電流0.06有點(diǎn)偏高,拆機5V電感有吱吱的聲音發(fā)出,測阻抗正常.更換電感后故. o# Q% Z) `2 h1 Z7 s* L, x a
障排除.
) \& d* t9 ]/ ~9 ]! A# X總結：電感電容虛焊也會(huì )引起此故障。
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這種方法是在ｉｃ未焊入電路時(shí)進(jìn)行的，一般情況下可用萬(wàn)用表測量各引腳對應于接地引腳之間的正、反向電阻值，并和完好的ｉｃ進(jìn)行較。: N* q( Q- e# U, Z4 d
2、在路檢測, m% M; ` f# O3 u/ P; s5 }
這是一種通過(guò)萬(wàn)用表檢測ｉｃ各引腳在路（ｉｃ在電路中）直流電阻、對地交直流電壓以及總工作電流的檢測方法。這種方法克服了代換試驗法需要有可代換ｉｃ的局限性和拆卸ｉｃ的麻煩，是檢測ｉｃ最常用和實(shí)用的方法。+ z. ~9 U6 L% P: E7 N
A 直流工作電壓測量 * ~8 d* G1 c! T: G9 V: u5 i% Q
這是一種在通電情況下，用萬(wàn)用表直流電壓擋對直流供電電壓、外圍元件的工作電壓進(jìn)行測量；檢測ｉｃ各引腳對地直流電壓值，并與正常值相較，進(jìn)而壓縮故障范圍， 出損壞的元件。測量時(shí)要注意以下八點(diǎn) ：, N# s+ f* }0 Y2 r: p2 P
(1)萬(wàn)用表要有足夠大的內阻， 少要大于被測電路電阻的１０倍以上，以免造成較大的測量誤差。; |- s5 [, ]% D% j* T
(2)通常把各電位器旋到中間位置，如果是電視機，信號源要采用標準彩條信號發(fā)生器。
4 g" l/ J" s/ |. Y7 u* F) X(3)表筆或探頭要采取防滑措施。因任何瞬間短路都容易損壞ｉｃ�？刹扇∪缦路椒ǚ乐贡砉P滑動(dòng)：取一段自行車(chē)用氣門(mén)芯套在表筆尖上，并長(cháng)出表筆尖約０．５ｍｍ左右，這既能使表筆尖良好地與被測試點(diǎn)接觸，又能有效防止打滑，即使碰上鄰近點(diǎn)也不會(huì )短路。& J- J$ ` x _, K4 }% t9 b8 S
(4)當測得某一引腳電壓與正常值不符時(shí)，應根據該引腳電壓對ｉｃ正常工作有無(wú)重要影響以及其他引腳電壓的相應變化進(jìn)行分析，能判斷ｉｃ的好壞。
8 Q! r( G1 I) O(5)ｉｃ引腳電壓會(huì )受外圍元器件影響。當外圍元器件發(fā)生漏電、短路、開(kāi)路或變值時(shí)，或外圍電路連接的是一個(gè)阻值可變的電位器，則電位器滑動(dòng)臂所處的位置不同，都會(huì )使引腳電壓發(fā)生變化。
& `! l$ C, ]2 r9 C4 e7 z3 u(6)若ｉｃ各引腳電壓正常，則一般認為ｉｃ正常；若ｉｃ部分引腳電壓異常，則應從偏離正常值最大處入手，檢查外圍元件有無(wú)故障，若無(wú)故障，則ｉｃ很可能損壞。
5 i# j2 v3 r1 `) O (7)對于動(dòng)態(tài)接收裝置，如電視機，在有無(wú)信號時(shí)，ｉｃ各引腳電壓是不同的。如發(fā)現引腳電壓不該變化的反而變化大，該隨信號大小和可調元件不同位置而變化的反而不變化，就可確定ｉｃ損壞。
! ~) k$ S% u7 h1 S# h (8)對于多種工作方式的裝置，如錄像機，在不同工作方式下，ｉｃ各引腳電壓也是不同的。
( V9 W* D7 g2 {. g還要補充二的是：
! U+ M5 O1 ]2 J6 H交流工作電壓測量法
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" \5 w1 c- a' _8 Y2 U; ? I3 G 為了掌握ｉｃ交流信號的變化情況，可以用帶有ｄｂ插孔的萬(wàn)用表對ｉｃ的交流工作電壓進(jìn)行近似測量。檢測時(shí)萬(wàn)用表置于交流電壓擋，正表筆插入ｄｂ插孔；對于無(wú)ｄｂ插孔的萬(wàn)用表，需要在正表筆串接一只０．１～０．５μｆ隔直電容。該法適用于工作頻率較低的ｉｃ，如電視機的視頻放大級、場(chǎng)掃描電路等。由于這些電路的固有頻率不同，波形不同，所以所測的數據是近似值，只能供參考。1 r2 S9 z3 J. c4 P K- W# m& x/ ^2 l
總電流測量法& O4 d/ S6 \& }5 j; [
該法是通過(guò)檢測ｉｃ電源進(jìn)線(xiàn)的總電流，來(lái)判 ｉｃ好壞的一種方法。由于ｉｃ內部絕大多數為直接耦合，ｉｃ損壞時(shí)（如某一個(gè)ｐｎ結擊穿或開(kāi)路）會(huì )引起后級飽和與截止，使總電流發(fā)生變化。所以通過(guò)測量總電流的方法可以判ｉｃ的好壞。也可用測量電源通路中電阻的電壓降，用歐姆定律計算出總電流值。
& q9 y. r. E9 H' }; m筆記本主板基本維修思路5 ^5 |5 v# j. n8 c7 H( J6 X3 {) n
歡迎朋友共同探討, 內容比較長(cháng),請耐心看完,收獲在其中!
* T4 j& i, ]2 Q7 A$ t' u 在拿到不良MB之時(shí)，請不要急于上電！應當先用眼睛仔細觀(guān)察板面，有可能的話(huà)，用一塊OK的MB比對著(zhù)，查看是否腐蝕氧化、燒件、多件、錯件和反件，因為很多未維修好的主板有很多是人為造成的故障，如果養成了Eyes Checking這種習慣，則可以大大提高Debug的效率。一、看Power是否OK；
3 _0 Y* ]# w; }用萬(wàn)用表量每一個(gè)Power Net的對地阻抗，用良板作比對，則可以知道短路與否。有一個(gè)判斷Power有沒(méi)短路的最快捷的方法是使用Power Supply，看其顯示的電流值：
! S4 ` j, D, Q; t如果電流值偏大，則表示Power有短路，應立即移除ADP；用萬(wàn)用表量每一個(gè)Power Net，看是哪個(gè)Net短路了；確定短路Net后，找到相關(guān)電路，將Bead一組組斷開(kāi)，直至找到短路的地方，然后將損壞的元器件更換。6 W; x1 t$ q0 U
如果電流值偏小，則表示有些Power沒(méi)起來(lái)，可以用萬(wàn)用表量出來(lái)。& h0 {' m- N( y( h
（一）Debug Card的LED不亮；, H6 W% M& B: h. Z+ ?1 z) ~/ U
.在Power OK的情況下，Debug Card的LED就會(huì )亮起來(lái)。如果不亮，可能是Mini PCI插槽或Debug Card本身的問(wèn)題；還有可能是用了不兼容的CPU或RAM等，那樣會(huì )導致LED不亮或者顯示一些很古怪的符號。。。
8 `) Z1 S% e% Y0 G: {7 ^（二）Debug Card顯示FF（00）；, q( y2 |5 v) v) g9 T& A1 c& ]
Debug Card 顯示FF（00）表示CPU連第一道指令都沒(méi)有去執行。!
" r& ^7 K& ]: ~0 g3 v: J& J! L5 Y T有的主板的微代碼不兼容也會(huì )顯示FF（00檢修步驟：; G0 t+ w1 P8 m1 [8 h# s
第一步：
* M# l* ~# r1 w去量CPU復位信號CPURST#：如果OK，則跳到第二步，應該可以用萬(wàn)用表量到CPURST#的電壓值有1.05V（Napa大概是1.5V）；如果CPURST#量不到，則先在非bga封裝的PCI Device Controller Pin腳上量PCIRST#：如果沒(méi)有量到，則說(shuō)明PCI總線(xiàn)上有問(wèn)題，先去看南橋的晶振、Clock信號、是否植過(guò)球（見(jiàn)下面的注釋?zhuān)┮约皯岩善浜附訂?wèn)題，假如都OK，就要去一一斷開(kāi)每個(gè)PCI Device與PCIRST#的連接，確定是哪個(gè)Device影響了PCIRST#；如果PCIRST#有量到，則去看北橋復位信號PLTRST#有沒(méi)從南橋發(fā)出：如沒(méi)有發(fā)出，則依舊要看南橋本身的問(wèn)題；如PLTRST#有發(fā)出，則看北橋有沒(méi)收到�？梢匀チ總魉蚉LTRST#線(xiàn)路上連接北橋和南橋的電阻。如果北橋收到PLTRST#卻沒(méi)有發(fā)CPURST#，則需要去看北橋的晶振、Clock信號、是否植過(guò)球以及懷疑其焊接問(wèn)題，排除這些問(wèn)題之后，就跳到第二步。
2 L* r6 k, H" r" S4 Z注釋?zhuān)河袝r(shí)板子上BGA Chip點(diǎn)了彩色的點(diǎn)，灰色的點(diǎn)表示Chip曾經(jīng)被更換過(guò)，綠色或者紅色的點(diǎn)則表示該Chip是工廠(chǎng)回收再利用的（經(jīng)過(guò)重植球），極有可能本身就是壞的。點(diǎn)的顏色所代表的意思并非統一的，要看工廠(chǎng)怎么定。* C* z8 O: u* S0 [9 Z2 u5 e
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4 E7 f# l2 v, w0 ?R40電池能充電但不能放電故障! 己修復9 |- ^ F$ {' V* H
R40電池能充電但不能放電故障! 己修復先換一R32電池,還是只能充電不能放電,經(jīng)測量保護隔離電路各場(chǎng)管都一切正常,撥掉電源用電池放電時(shí),按開(kāi)機鍵,測量保護隔離電路各場(chǎng)管柵極電壓都有變化,證明控制電路沒(méi)問(wèn)題,后來(lái)測量電池的充電放電有一個(gè)公用的場(chǎng)管,能充電時(shí),是內部的保護二極管正向導通所制,不能放電時(shí)再測量此場(chǎng)管,發(fā)現柵極有控制電壓,但確沒(méi)有輸出,換此場(chǎng)管后,電池充放電一切正常
: S. _ |# T6 G2 x. Z6 I, {/ O, t量場(chǎng)管時(shí)跟好的是一樣的,因為場(chǎng)管內部的電路除了保護二極管可以測量,其它幾個(gè)極阻值都接近無(wú)窮大,所以好壞只能通電后才能測出來(lái)..: ~9 L5 |0 R% S- S" ?( {1 G( }' D5 E
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判斷南北橋好壞
" u! G& j8 Q: u5 }, y 南橋的好壞可以通過(guò)打ＰＣＩ總線(xiàn)的對地阻值來(lái)判斷其好壞，若品偏大，有可能是男橋虛焊或斷線(xiàn)，若諞小，說(shuō)明南橋內部有短路現象．開(kāi)機后南橋發(fā)燙不一定就是南橋的問(wèn)題，有可能是外圍元器件的問(wèn)題．再就是南橋待機３．３Ｖ測試點(diǎn)對地短路肯定就是南橋壞．
1 d# [( k# \0 V) l北橋的好壞就是通過(guò)打ＡＧＰ，ＣＰＵ，內存槽的一些ＡＤ線(xiàn)的對地阻值來(lái)判斷其好壞，方法同上，要是ＣＰＵ，內存，顯卡供電測試點(diǎn)對地短，８０％就是北橋壞4 u0 ^2 \, Z3 j3 R6 t) z6 [/ x+ y
北橋和內存是相連的，中間有一大排電阻，可以測阻值，阻值太小，就短路了，太大就虛了，北橋是不怎么壞的，壞的很少，南橋到是太能壞了，我還沒(méi)有什么好法子，只能和好板對比，南橋和USB，硬盤(pán)，光驅?zhuān)际侵苯舆B系的，可以給它們的數據線(xiàn)對地打阻值！和好的板子比較。
+ b7 R, C3 I2 C+ }還有南橋壞了有的表面會(huì )有黑點(diǎn)！
4 b% m2 Z: P; f* J" F. `* `* ^只有這么點(diǎn)經(jīng)驗了4 E7 v/ o5 r# H4 K, }# D8 D# m: @
測量中間的那些點(diǎn)的外圍部分,4邊的從左到右的第2個(gè)引腳是都接地,把一個(gè)萬(wàn)用
- z6 p$ s- A& T& b" I' Z: x {表的黑筆接地,紅筆測量4邊的從左到右的第1個(gè)引腳,其中有一個(gè)700,和兩個(gè)360左) f7 }8 u8 q H
右的阻值1 p! Z" |- S& o: V& {# L- k( _7 I- e
這樣的測量方法經(jīng)過(guò)我的實(shí)踐還是挺好用的,最起碼開(kāi)機是沒(méi)有問(wèn)題,最起碼是不會(huì )出現短路....
% m- L7 i5 T: Y% J) A3 I5 _但是USB能不能用就不記得了.呵呵' s U, Y& T/ M, m+ W N2 ~7 Z
這個(gè)只適用于DBM芯片,其他的無(wú)作用.....
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4 _: N/ z) P: d" r* B& `5 J D. P |
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