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! r) G# m" b0 Q2 U: N! K3 v) ?一般判斷方法: D; I- J8 R2 P0 j
1。溫度法* A2 y) A2 I' r5 }1 ^. \
2。關(guān)聯(lián)元件測試法4 N( F- o: b, k( h
3。周邊電路電壓測試法. _5 L* w% N- P8 c& V% y
北橋好壞判斷方法
" H+ c* T) D5 t" Q! x3 v 一。直接打北橋上或者北橋芯片的周?chē)娙,如果有短路,則北橋壞。* r7 l4 L' v" H6 w, w% _( Y9 h/ q3 o6 X# ~! Q& ~) W
二。對主供電部分輸出電感一端或Q1場(chǎng)管的S極、Q2場(chǎng)管的D極打阻值,在不插CPU或假負載的情況下,即判斷北橋好壞:9 ~; t6 e3 w2 U/ P( u
1。在40左右數值為正常。
3 }5 ~, Q0 ? E* K/ U! Y2。在20-30左右為北橋有輕微損壞。5 ^0 _8 } P4 U# A, K8 z& @" f- H$ T7 j7 M9 t
3。在10以下說(shuō)明北橋損壞。6 Q z7 L5 k% o/ v- {5 M& H
7 C* U5 |$ m2 W0 U. T 三。內存插槽,通過(guò)對數據線(xiàn)進(jìn)行打阻值判斷,都為300-800之間數值,說(shuō)明北橋好;若無(wú)窮大,說(shuō)明北橋虛焊;若有3根或3根以上導通,說(shuō)明北橋壞。; v. s, [! g; g* @1 Q) _/ m; v
3 {7 _, {: |6 t' R6 _ 南橋好壞判斷方法; |* T! e# Y* Y: _, W
$ b1 A' I- a2 J9 r* b" W4 r一。IDE口:打2-9、11-19、21-29、37-39針等,對地阻值有600左右且相差不大的數值為南橋正常;如有無(wú)窮大或1000以上的數值為南橋虛焊或IDE口到NQ之間的小電阻燒斷;如阻值明顯偏小為南橋損壞。8 d: y$ w0 {5 x& {( A# x; p/ `
二。USB口:打兩個(gè)USB口的2、3針的阻值,如有500左右的數值說(shuō)明南橋正常;如有無(wú)窮大說(shuō)明南橋虛焊或它們到南橋之間的小電阻損壞;如有阻值明顯偏小說(shuō)明南橋損壞。
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% Y' y0 a: c4 q7 O/ _ @( D 快速判斷南橋好壞的方法
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一。PCI(A14腳)對地阻值小于80,則南橋損壞。( D5 R& A2Y2 O% ]+ U) S' {
& u6 v/ k/ @( l8 r. @" { 二。南橋周?chē)娙輰Φ刈柚刀搪贰? O* b&~ [. {. i" u/ v% a2 T2 y' E8 A( j$ [ g$ {4 _& g
三。USB數據線(xiàn)對地阻值短路。8 ]* M2 y' }+ ]9 L$ S b
四。待機時(shí),南橋溫度高。8 j( A( U2 x0 c4^/ U
. R4 _5 n" Y! s 五。COMS跳線(xiàn)中間腳對地阻值短路。& o4 a( ]*R, W1 U: g8 k/ N( b7 o/ }
( p- G1 ]1 R4 ?# F% c$ ] 六。1117穩壓管中間腳對地阻值短路。
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