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BGA返修臺的認識

     
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BGA返修臺0 發(fā)表于 2014-12-31 16:40:08 | 只看該作者 回帖獎勵 |倒序瀏覽 |閱讀模式 來(lái)自 中國廣東深圳

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bga返修臺種類(lèi)
分光學(xué)對位與非光學(xué)對位
光學(xué)對位——通過(guò)光學(xué)模塊采用裂棱鏡成像,LED照明方式,調整光場(chǎng)分布,使小芯片成像顯示與顯示器上。以達到光學(xué)對位返修。
非光學(xué)對位——則是通過(guò)肉眼將BGA根據PCB板絲印線(xiàn)及點(diǎn)對位,以達到對位返修。
針對不同大小的BGA原件進(jìn)行視覺(jué)對位,焊接、拆卸的智能操作設備,有效提高返修率生產(chǎn)率,大大降低成本。
BGA:BGA封裝內存
BGA封裝(Ball Grid Array Package)的I/O端子以圓形或柱狀焊點(diǎn)按陣列形式分布在封裝下面,BGA技術(shù)的優(yōu)點(diǎn)是I/O引腳數雖然增加了,但引腳間距并沒(méi)有減小反而增加了,從而提高了組裝成品率;雖然它
的功耗增加,但BGA能用可控塌陷芯片法焊接,從而可以改善它的電熱性能;厚度和重量都較以前的封裝技術(shù)有所減少;寄生參數減小,信號傳輸延遲小,使用頻率大大提高;組裝可用共面焊接,可靠性高。
BGA封裝技術(shù)可詳分為五大類(lèi):
1.PBGA(Plasric BGA)基板:一般為2-4層有機材料構成的多層板。Intel系列CPU中,Pentium II、III、IV處理器均采用這種封裝形式。
2.CBGA(CeramicBGA)基板:即陶瓷基板,芯片與基板間的電氣連接通常采用倒裝芯片(FlipChip,簡(jiǎn)稱(chēng)FC)的安裝方式。Intel系列CPU中,Pentium I、II、Pentium Pro處理器均采用過(guò)這種封裝形式。
3.FCBGA(FilpChipBGA)基板:硬質(zhì)多層基板。
4.TBGA(TapeBGA)基板:基板為帶狀軟質(zhì)的1-2層PCB電路板。
5.CDPBGA(Carity Down PBGA)基板:指封裝中央有方型低陷的芯片區(又稱(chēng)空腔區)。
說(shuō)到BGA封裝就不能不提Kingmax公司的專(zhuān)利TinyBGA技術(shù),TinyBGA英文全稱(chēng)為T(mén)iny Ball Grid Array(小型球柵陣列封裝),屬于是BGA封裝技術(shù)的一個(gè)分支。是Kingmax公司于1998年8月開(kāi)發(fā)成功的,其芯片面積與封裝面積之比不小于1:1.14,可以使內存在體積不變的情況下內存容量提高2~3倍,與TSOP封裝產(chǎn)品相比,其具有更小的體積、更好的散熱性能和電性能。
BGA主要有四種基本類(lèi)型:PBGA、CBGA、CCGA和TBGA,一般都是在封裝體的底部連接著(zhù)作為I/O引出端的焊球陣列。這些封裝的焊球陣列典型的間距為1.0mm、1.27mm、1.5mm,焊球的鉛錫組份常見(jiàn)的主要有63Sn/37Pb和90Pb/10Sn兩種,焊球的直徑由于沒(méi)有這方面相應的標準而各個(gè)公司不盡相同。從BGA的組裝技術(shù)方面來(lái)看,BGA有著(zhù)比QFP器件更優(yōu)越的特點(diǎn),其主要體現在BGA器件對于貼裝精度的要求不太嚴格,理論上講,在焊接回流過(guò)程中,即使焊球相對于焊盤(pán)的偏移量達50%之多,也會(huì )由于焊料的表面張力作用而使器件位置得以自動(dòng)校正,這種情況經(jīng)實(shí)驗證明是相當明顯的。其次,BGA不再存在類(lèi)似QFP之類(lèi)器件的引腳變形問(wèn)題,而且BGA還具有相對QFP等器件較良好的共面性,其引出端間距與QFP相比要大得多,可以明顯減少因焊膏印刷缺陷導致焊點(diǎn)“橋接”的問(wèn)題;另外,BGA還有良好的電性能和熱特性,以及較高的互聯(lián)密度。BGA的主要缺點(diǎn)在于焊點(diǎn)的檢測和返修都比較困難,對焊點(diǎn)的可靠性要求比較嚴格,使得BGA器件在很多領(lǐng)域的應用中受到限制。
以下就四種基本類(lèi)型的BGA,從其結構特點(diǎn)等多方面加以闡述。
1.1 PBGA(Plastic Ball Grid Array塑封球柵陣列)
bga返修臺
PBGA即通常所說(shuō)的OMPAC(Overmolded Plastic Array Carrier),是最普通的BGA封裝類(lèi)型(見(jiàn)圖2)。PBGA的載體是普通的印制板基材,例如FR-4、BT樹(shù)脂等。硅片通過(guò)金屬絲壓焊方式連接到載體的上表面,然后用塑料模壓成形,在載體的下表面連接有共晶組份(37Pb/63Sn)的焊球陣列。焊球陣列在器件底面上可以呈完全分布或部分分布(見(jiàn)圖3),通常的焊球尺寸0.75~0.89mm左右,焊球節距有1.0mm、1.27mm、1.5mm幾種。
PBGA可以用現有的表面安裝設備和工藝進(jìn)行組裝。首先通過(guò)漏印方式把共晶組份焊膏印刷到相應的PCB焊盤(pán)上,然后把PBGA的焊球對應壓入焊膏并進(jìn)行回流,因漏印采用的焊膏和封裝體的焊球均為共晶焊料,所以在回流過(guò)程中焊球和焊膏共熔,由于器件重量和表面張力的作用,焊球坍塌使得器件底部和PCB之間的間隙減小,焊點(diǎn)固化后呈橢球形。PBGA169~313已有批量生產(chǎn),各大公司正不斷開(kāi)發(fā)更高的I/O數的PBGA產(chǎn)品,預計在近兩年內I/O數可達600~1000。
PBGA封裝的主要優(yōu)點(diǎn):
①可以利用現有的組裝技術(shù)和原材料制造PBGA,整個(gè)封裝的費用相對較低。
②和QFP器件相比,不易受到機械損傷。
③可適用于大批量的電子組裝。
PBGA技術(shù)的主要挑戰是保證封裝的共面性、減少潮氣的吸收和防止“popcorn”現象的產(chǎn)生以及解決因日趨增大的硅片尺寸引起的可靠性問(wèn)題,對于更高I/O數的封裝,PBGA技術(shù)的難度將更大。由于載體所用材料是印制板基材,所以在組裝件中PCB和PBGA載體的熱膨脹系數(TCE)近乎相同,因此在回流焊接過(guò)程中,對焊點(diǎn)幾乎不產(chǎn)生應力,對焊點(diǎn)的可靠性影響也較小。PBGA應用遇到的問(wèn)題是如何繼續減少PBGA封裝的費用,使PBGA能在I/O數較低的情況下仍比QFP節省費用。
1.2 CBGA(Ceramic Ball Grid Array陶瓷球柵陣列)
CBGA通常也稱(chēng)作SBC(Solder Ball Carrier),是BGA封裝的第二種類(lèi)型(見(jiàn)圖4)。CBGA的硅片連接在多層陶瓷載體的上表面,硅片與多層陶瓷載體的連接可以有兩種形式,第一種是硅片線(xiàn)路層朝上,采用金屬絲壓焊的方式實(shí)現連接,另一種則是硅片的線(xiàn)路層朝下,采用倒裝片結構方式實(shí)現硅片與載體的連接。硅片連接完成之后,對硅片采用環(huán)氧樹(shù)脂等填充物進(jìn)行包封以提高可靠性和提供必要的機械防護。在陶瓷載體的下表面,連接有90Pb/10Sn焊球陣列,焊球陣列的分布可以有完全分布或部分分布兩種形式,焊球尺寸通常約0.89mm左右,間距因各家公司而異,常見(jiàn)的為1.0mm和1.27mm。
PBGA器件也可以用現有的組裝設備和工藝進(jìn)行組裝,但由于與PBGA的焊球組份不同,使得整個(gè)組裝過(guò)程和PBGA有所不同。PBGA組裝采用的共晶焊膏的回流溫度為183℃,而CBGA焊球的熔化溫度約為300℃,現有的表面安裝回流過(guò)程大都是在220℃回流,在這個(gè)回流溫度下僅熔化了焊膏,但焊球沒(méi)有熔化。因此,要形成良好的焊點(diǎn),漏印到焊盤(pán)上的焊膏量和PBGA相比要多,其目的首先是要用焊膏補償CBGA焊球的共平面誤差,其次是保證能形成可靠的焊點(diǎn)連接。
在回流之后,共晶焊料包容焊球形成焊點(diǎn),焊球起到了剛性支撐的作用,因此器件底部與PCB的間隙通常要比PBGA大。CBGA的焊點(diǎn)是由兩種不同的Pb/Sn組份焊料形成的,但共晶焊料和焊球之間的界面實(shí)際上并不明顯,通常焊點(diǎn)的金相分析,可以看到在界面區域形成一個(gè)從90Pb/10Sn到37Pb/63Sn的過(guò)渡區。
一些產(chǎn)品已采用了I/O數196~625的CBGA封裝器件,但CBGA的應用還不太廣泛,更高I/O數的CBGA封裝的發(fā)展也停滯不前,主要歸咎于CBGA組裝中存在的PCB和多層陶瓷載體之間的熱膨脹系數(TCE)不匹配問(wèn)題,這個(gè)問(wèn)題的出現,使得在熱循環(huán)時(shí)引起封裝體尺寸較大的CBGA焊點(diǎn)產(chǎn)生失效。通過(guò)大量的可靠性測試,已經(jīng)證實(shí)了封裝體尺寸小于32mm×32mm的CBGA均可以滿(mǎn)足工業(yè)標準熱循環(huán)試驗規范。CBGA的I/O數目限制在625以下,對于陶瓷封裝體尺寸在32mm×32mm以上的,則必須要考慮采取其它類(lèi)型的BGA。
CBGA封裝的主要優(yōu)點(diǎn)在于:
1)具有優(yōu)良的電性能和熱特性。
2)具有良好的密封性能。
3)和QFP器件相比,CBGA不易受到機械損傷。
4)適用于I/O數大于250的電子組裝應用。
此外,由于CBGA的硅片與多層陶瓷的連接可以采用倒裝片連接方式,所以可以達到比金屬絲壓焊連接方式更高的互聯(lián)密度。在很多情況下,尤其是在高I/O數的應用下,ASICs的硅片尺寸受到金屬絲壓焊焊盤(pán)尺寸的限制,CBGA通過(guò)采用了更高密度的硅片互聯(lián)線(xiàn)路,使得硅片的尺寸可以進(jìn)一步減小而又不犧牲功能,從而降低了費用。

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lengku8738 發(fā)表于 2015-1-9 16:11:58 | 只看該作者 來(lái)自 中國江蘇鹽城
這個(gè)看了好像沒(méi)什么用
     
3#
BGA返修臺0  | 發(fā)表于 2015-1-12 10:13:09 | 只看該作者 來(lái)自 中國廣東深圳
lengku8738 發(fā)表于 2015-1-9 16:11
這個(gè)看了好像沒(méi)什么用

返修率幾乎100%怎么會(huì )沒(méi)用
4#
xyz7708 發(fā)表于 2015-1-12 14:16:49 | 只看該作者 來(lái)自 中國湖北武漢
由于CBGA的硅片與多層陶瓷的連接可以采用倒裝片連接方式        好貼頂
     
5#
BGA返修臺0  | 發(fā)表于 2015-1-12 17:16:41 | 只看該作者 來(lái)自 中國廣東深圳
xyz7708 發(fā)表于 2015-1-12 14:16
由于CBGA的硅片與多層陶瓷的連接可以采用倒裝片連接方式        好貼頂

謝謝前來(lái)頂帖
6#
danielechen 發(fā)表于 2015-2-12 17:15:33 | 只看該作者 來(lái)自 意大利
下載 看看~~謝謝樓主
     
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BGA返修臺0  | 發(fā)表于 2015-3-2 14:04:35 | 只看該作者 來(lái)自 中國廣東深圳
danielechen 發(fā)表于 2015-2-12 17:15
下載 看看~~謝謝樓主

                                     謝謝
     
8#
tb419463 發(fā)表于 2015-12-24 10:59:55 | 只看該作者 來(lái)自 中國廣東深圳
     
9#
陳慶林 發(fā)表于 2015-12-24 11:13:02 | 只看該作者 來(lái)自 中國廣東深圳
關(guān)鍵是不要是XX學(xué)校的,烤掛B多,
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