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這份資料之前其實(shí)發(fā)過(guò)，但是發(fā)現沒(méi)人重視這份資料，這份資料很重要
WD 的自校準，主要流程有：調整磁頭讀寫(xiě)功率；調整磁頭飛行高度；調
整磁通量和磁道密度；設置磁面合適容量；優(yōu)化測試讀取通道；磁盤(pán)面表全面
掃描壞道加入日志；壓縮壞道日志規內扇區和軌道；將日志加入P 表；全盤(pán)低
格。
每個(gè)硬盤(pán)，從掃描壞道到低格，流程效果都是一樣的，而關(guān)系到這里是否
成功，關(guān)鍵在于前面的ARCO 磁頭性能參數調整。ARCO 參數主要由固件提供，
好的通刷固件能把ARCO 參數調整到最佳好，但不管怎么樣調整，原盤(pán)出廠(chǎng)的
工廠(chǎng)調適，肯定是最適合原盤(pán)的。
如果我們把原盤(pán)的適配參數用到通刷固件里，那肯定是最好的。
和硬盤(pán)適配有關(guān)的模塊一共就四個(gè)：
40 41 47 4A 。我們通刷后，回寫(xiě)原盤(pán)
的這四個(gè)模塊，硬盤(pán)適配參數最佳！
在這四個(gè)模塊中，47 是最關(guān)鍵的模塊，一般稱(chēng)為適配模塊，在通刷回寫(xiě)以
上四個(gè)模塊后，要生成47 適配信息，在47 編輯里，先讀取47，從40 讀出，如
果40 不能生成也可以從41 讀出，讀出后再點(diǎn)寫(xiě)入即可。
我們對硬盤(pán)做44，也就是為了生成47 模塊，如果有原盤(pán)47，在從40 或41
生成后，做44 時(shí)可以選擇從47 獲取信息。
啟動(dòng)ARCO 后，自檢卡在最前面的C4 不過(guò)的,一般是有磁頭壞或某段壞造
成,可強行跑da 或d1 流程,完成查看E0 等模塊記錄確定那個(gè)磁頭的壞道記錄多
來(lái)判斷，L 板一般不超過(guò)1W,701499 一般不超過(guò)3W,三角板一般不超過(guò)5W 或正
常。C4 的自檢過(guò)程記錄在2000 至2007 模塊,如果c4 失敗可查看這些模塊有沒(méi)
有內容記錄來(lái)判斷停在那個(gè)磁頭。
卡D1 的，有些是DA，固件不合適，需換固件跑。
卡D2 的，此步是加P 表，如果p 表值太高,則會(huì )失敗.流程指向DC
卡B9 的，P 表高的會(huì )導致這步失敗,P 表沒(méi)有記錄的話(huà)也會(huì )失敗，停下先清
譯碼表再重建，再從B9 開(kāi)跑。
SF 啟動(dòng)正常完成后是有P 表記錄的。
03 模塊包含該硬盤(pán)當前所使用的TPI 和段位值，E0 至E5 和F0 F1 模塊是
每個(gè)磁頭的自校過(guò)程中產(chǎn)生的壞道記錄。2050 至2057 模塊是每個(gè)磁頭的調適配
記錄。
砍過(guò)段的，都需要重建譯碼表，再從B9 開(kāi)始跑。如果不能重建的，清G
表再重建，如果還是不能重建的，P 表記錄過(guò)高，還需要砍其它段位，重新按3
號模塊記錄的TPI 值手動(dòng)選擇。
爆頭的，可以砍頭也可以先嘗試降容，降容方法是設置CAP 值。CAP 選擇
段位容量有三個(gè)檔位：1 為滿(mǎn)容量，最大容量；2 為最多降到半容量，如500 的
可以降到320G 或250G；3 為最小容量。
L 板的跑法：通刷后需要先測試內格是否格得動(dòng)，能格動(dòng)才能跑，跑完第一
個(gè)C4 后停下，重新調適配，設置好47 后，再接著(zhù)跑才能成功。
中斷自檢，或自檢自動(dòng)到了DC，要軟復位再跑。
fmt 格一會(huì )就斷電的，嘗試再選擇一次TPI 再格。
三角板掃描出！號的，一般是板不良造成。
一般固件引起的敲盤(pán)會(huì )自通電轉動(dòng)敲兩下就停轉，如果懷疑是固件引起的，
在停轉后用磁道測試功能來(lái)測試。如果這個(gè)盤(pán)的電路板是配對的。ROM 也是寫(xiě)
了同家族號其它兼容的，執行此功能后硬盤(pán)不敲，起轉有尋道聲。證明就是固
件引起的敲盤(pán)。還是敲的話(huà)證明有磁頭損壞。
重建譯碼表=帶P 表的內部格式化，只要格式化一開(kāi)始，重建就完成了。
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