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在做BURN-IN 測試之前先要加載正確的代碼,在加載BURN代碼之前一定確認是否需要保留用戶(hù)數據,如是則不可進(jìn)行加載,因為加載會(huì )破壞用戶(hù)區數據;同時(shí)我們也要在測試之前保存模塊和ROM,還有,我們應該準備一個(gè)外接電源,因為這個(gè)測試需要6到20個(gè)小時(shí);
下面我們介紹執行老化測試的步驟:
1。寫(xiě)老化程序到硬盤(pán)中:“BURN-IN SCRIPT”,“OVERLAY”,“BURN CODE OR DOWNSIZE BURN CODE”;
2。關(guān)開(kāi)電源,等待5分鐘然后進(jìn)行測試(在過(guò)程中間如果我們使用復位那么硬盤(pán)就會(huì )轉到就緒狀態(tài)并可以存取到服務(wù)區),如果我們把硬盤(pán)連接到一個(gè)終端中,我們就可以看到測試的進(jìn)程;如果我們使用一個(gè)外接的LED來(lái)控制測試過(guò)程和完成,在測試完成之后硬盤(pán)就會(huì )停止轉動(dòng)并開(kāi)始閃燈,同時(shí)我們也可以通過(guò)終端顯示來(lái)確定是否完成:LED00 0000。
如果測試成功,我們就可以根據測試前寫(xiě)到ROM的代碼決定寫(xiě)main code 或者DOWNSIZE CODE;
寫(xiě)完之后我們可以開(kāi)關(guān)電源,這樣硬盤(pán)就可以工作了。
如果測試完成時(shí)出現錯誤,我們不可以寫(xiě)main code到ROM中,如果測試已經(jīng)運行了Burn-in Script文件,我們應該嘗試使用原始的Burn-in Script文件再測試,要這樣做的話(huà),我們可以寫(xiě)BISPT模塊到硬盤(pán),加載它以便查看模塊表,更改模塊的標題為BURN,開(kāi)關(guān)電源--這樣硬盤(pán)就會(huì )重新開(kāi)始測試。
如果測試已經(jīng)運行原始的Burn-in Script文件,我們可以嘗試測試相應的Burn-in Script,如果缺陷表已經(jīng)填滿(mǎn),我們可以嘗試運行DOWNSIZE 測試,在原始的Burn-in Script中包含有是硬盤(pán)轉換到Burn-in Script模式的功能.
例如,在測試的過(guò)程中硬盤(pán)從P60CODE模式讀DOWNSIZE BURN CODE(對于PALO硬盤(pán))或者從P40CODE(對于PANGO硬盤(pán)),把它寫(xiě)到ROM然后再測試,如果ATA ID在測試結束后已經(jīng)改變到初始模式,那么我們應該寫(xiě)DOWNSIZE MAIN CODE代替MAIN CODE.
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