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本帖最后由 哼哈二將 于 2017-1-7 10:56 編輯
華為P6-T00不開(kāi)機,按開(kāi)機鍵無(wú)電流故障維修案例
現象描述:
不開(kāi)機,按開(kāi)機鍵無(wú)電流。
問(wèn)題分析:
在維修手機不開(kāi)機故障時(shí),首先要知道手機的開(kāi)機原理,手機開(kāi)機原理有五要素,分別為: 供電、時(shí)鐘、復位、軟件、維持。具體開(kāi)機過(guò)程如下:
、傥窗撮_(kāi)機鍵,32.768K實(shí)時(shí)時(shí)鐘開(kāi)始工作,電源待機工作。
、诎聪麻_(kāi)機鍵后,電源IC開(kāi)始工作,分別為CPU、主時(shí)鐘供電;主時(shí)鐘產(chǎn)生時(shí)鐘信號經(jīng)射頻IC整形,放大送給CPU,為CPU工作提供時(shí)鐘條件;電源IC產(chǎn)生PURX復位信號給CPU,使CPU進(jìn)行清零初始化。供電、時(shí)鐘、復位三個(gè)條件都正常時(shí),CPU才開(kāi)始工作。
、跜PU通過(guò)三路總線(xiàn)(CBUSDATA數據總線(xiàn)、CBUSCTRL控制總線(xiàn)、CBUSADDR地址總線(xiàn))從flash調出開(kāi)機程序,并進(jìn)行運行,一旦運行通過(guò),CPU將送出CBUSCLK、CBUSEN、CBUSDA維持信號,使電源IC不斷產(chǎn)生供電。此時(shí),手機不再斷電,開(kāi)機完成。
、芨鶕_(kāi)機原理首先檢查手機有沒(méi)有供電,經(jīng)過(guò)測量手機VPH、VBAT電壓都正常(根據以往維修經(jīng)驗按開(kāi)機鍵無(wú)電流大部分都是晶振損壞導致,測量晶振阻抗正常,排除晶振損壞)。通過(guò)排除以上兩種故障,可以把故障定位為電源管理芯片損壞和開(kāi)關(guān)電路故障導致按開(kāi)機鍵無(wú)電流,檢查電源管理芯片電路正常。測量開(kāi)關(guān)電路時(shí)發(fā)現開(kāi)關(guān)電路異常,更換開(kāi)機鍵后手機正常開(kāi)機。
解決過(guò)程:
更換開(kāi)機鍵,故障修復。
問(wèn)題拓展:
問(wèn)題分析:在維修不開(kāi)機故障手機時(shí),可以根據自己的維修經(jīng)驗依據開(kāi)機原理去排除故障(如:可以先排除開(kāi)關(guān)故障,再排除其他故障)。VPH_PWR是由VBAT經(jīng)U1901輸出的,遇到開(kāi)機無(wú)電流,測量到VBAT有電壓而VPH_PWR無(wú)電壓(排除短路原因)可以考慮U1901。
華為P6-T00手機維修專(zhuān)題帖:http://www.jstransmit.com/thread-452645-1-1.html
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