系統從硬盤(pán)無(wú)法啟動(dòng),從A盤(pán)啟動(dòng)也無(wú)法進(jìn)入C盤(pán),使用CMOS中的自動(dòng)監測功能也無(wú)法發(fā)現硬盤(pán)的存在。這種故障大都出現在連接電纜或IDE端口上,硬盤(pán)本身故障的可能性不大,可通過(guò)重新插接硬盤(pán)電纜或者改換IDE口及電纜等進(jìn)行替換試驗,就會(huì )很快發(fā)現故障的所在。如果新接上的硬盤(pán)也不被接受,一個(gè)常見(jiàn)的原因就是硬盤(pán)上的主從跳線(xiàn),如果一條IDE硬盤(pán)線(xiàn)上接兩個(gè)硬盤(pán)設備,就要分清楚主從關(guān)系。 CMOS引起的故障 CMOS中的硬盤(pán)類(lèi)型正確與否直接影響硬盤(pán)的正常使用,F在的機器都支持"IDE Auto Detect"的功能,可自動(dòng)檢測硬盤(pán)的類(lèi)型。當硬盤(pán)類(lèi)型錯誤時(shí),有時(shí)干脆無(wú)法啟動(dòng)系統,有時(shí)能夠啟動(dòng),但會(huì )發(fā)生讀寫(xiě)錯誤。比如CMOS中的硬盤(pán)類(lèi)型小于實(shí)際的硬盤(pán)容量,則硬盤(pán)后面的扇區將無(wú)法讀寫(xiě),如果是多分區狀態(tài)則個(gè)別分區將丟失。還有一個(gè)重要的故障原因,由于目前的IDE都支持邏輯參數類(lèi)型,硬盤(pán)可采用"Normal,LBA,Large"等,如果在一般的模式下安裝了數據,而又在CMOS中改為其它的模式,則會(huì )發(fā)生硬盤(pán)的讀寫(xiě)錯誤故障,因為其映射關(guān)系已經(jīng)改變,將無(wú)法讀取原來(lái)的正確硬盤(pán)位置。
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